样本生成方法、系统、设备、存储介质及故障识别方法

    公开(公告)号:CN115100114B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202210574589.0

    申请日:2022-05-25

    Abstract: 本发明实施例提供了一种样本生成方法、系统、设备、存储介质及故障识别方法,其中,方法包括:获得当前初始接地图像、当前接地扩充图像和当前接地扩充图像掩膜,利用预设边界点搜索算法,获得当前接地扩充图像掩膜的当前边界点坐标组,并对其中的各边界点:利用预设邻域搜索算法,获取该边界点的插值邻域,利用预设插值算法,基于插值邻域计算该边界点的更新像素值,并更新当前接地扩充图像和当前初始接地图像中对应点的像素值,将接地扩充图像掩膜中该边界点的像素值赋零;判断当前接地扩充图像掩膜的像素点的像素值是否均为零,若是,则将当前初始接地图像确定为未接地样本图像。本发明提高了生成的未接地样本图像的数量、质量和种类丰富度。

    样本生成方法、系统、设备、存储介质及故障识别方法

    公开(公告)号:CN115100114A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202210574589.0

    申请日:2022-05-25

    Abstract: 本发明实施例提供了一种样本生成方法、系统、设备、存储介质及故障识别方法,其中,方法包括:获得当前初始接地图像、当前接地扩充图像和当前接地扩充图像掩膜,利用预设边界点搜索算法,获得当前接地扩充图像掩膜的当前边界点坐标组,并对其中的各边界点:利用预设邻域搜索算法,获取该边界点的插值邻域,利用预设插值算法,基于插值邻域计算该边界点的更新像素值,并更新当前接地扩充图像和当前初始接地图像中对应点的像素值,将接地扩充图像掩膜中该边界点的像素值赋零;判断当前接地扩充图像掩膜的像素点的像素值是否均为零,若是,则将当前初始接地图像确定为未接地样本图像。本发明提高了生成的未接地样本图像的数量、质量和种类丰富度。

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