公开(公告)号：CN114334450B

公开(公告)日：2025-05-02

申请号：CN202210009078.4

申请日：2022-01-06

Applicant: 北京东方计量测试研究所

Inventor： 扈蓓蓓 ,  孙文 ,  张欢 ,  金海彬 ,  刘民

IPC: H01G4/30 ,  H01G4/005 ,  H01G4/12 ,  H03H7/06

Abstract: 本发明涉及一种损耗标准器，包括阻抗网络(1)和对外接口(2)，所述对外接口(2)与所述阻抗网络(1)连接，所述阻抗网络(1)包括电容(11)和电阻(12)，所述电阻(12)与所述电容(11)并联。本发明可以满足中高值电容超低损耗因数溯源需求。

公开(公告)号：CN114334450A

公开(公告)日：2022-04-12

申请号：CN202210009078.4

申请日：2022-01-06

Applicant: 北京东方计量测试研究所

Inventor： 扈蓓蓓 ,  孙文 ,  张欢 ,  金海彬 ,  刘民

IPC: H01G4/30 ,  H01G4/005 ,  H01G4/12 ,  H03H7/06

Abstract: 本发明涉及一种损耗标准器，包括阻抗网络(1)和对外接口(2)，所述对外接口(2)与所述阻抗网络(1)连接，所述阻抗网络(1)包括电容(11)和电阻(12)，所述电阻(12)与所述电容(11)并联。本发明可以满足中高值电容超低损耗因数溯源需求。