一种卫星高压电子组件的加速寿命试验方法

    公开(公告)号:CN118818174A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410763222.2

    申请日:2024-06-13

    Abstract: 本发明提供一种卫星高压电子组件的加速寿命试验方法,针对卫星高压电子组件小子样、长寿命的特点,通过对产品进行综合性能分析,开展地面模拟空间环境下卫星高压电子组件的加速寿命方法研究。该方法具体过程为:确定卫星高压电子组件的在应用场景下的工作点及其对应的工作时间,选定单一恒定应力加速试验方式;计算卫星高压电子组件每一工作点所对应工作温度、加速因子及试验时间;开展试验包括:依次执行鉴定级环境试验、循环热真空老练试验、组件性能测试、高温加速寿命试验及组件性能测试;其中所述高温加速寿命试验为针对每一工作点,按照对应的工作温度和试验时间按顺序进行试验;从而完成卫星高压电子组件的加速寿命试验。

    一种卫星高压电子组件寿命模型获取方法

    公开(公告)号:CN118818173A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410763221.8

    申请日:2024-06-13

    Abstract: 本发明提供一种卫星高压电子组件寿命模型计算方法,该方法能够获得卫星高压电子组件的绝缘性能寿命。该方法具体过程为:设定实验条件:在真空和温度恒定条件下进行不同电应力下的高加速寿命试验,并确定每一施加的工作电压所对应的试验时间;试验试样制备:试样按照模拟实际绝缘结构制作,在试验前进行高温烘干;试验方案:包括冷热交变循环试验、电加速老化试验及非破坏性性能参量检测;模型拟合:基于非破坏性性能参量检测所获得的性能参数,拟合耐受电压倍数与寿命之间的关系曲线,获得拟合系数,基于所述拟合系数获得卫星高压电子组件寿命模型。

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