公开(公告)号：CN107271467A

公开(公告)日：2017-10-20

申请号：CN201710618363.5

申请日：2017-07-26

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 常青青 ,  李维姣 ,  沈天明 ,  陈嘉敏 ,  丁志平 ,  刘伟豪 ,  王德凯

IPC: G01N23/083 ,  G01N23/10

Abstract: 本发明公开了一种基于X射线透视和散射技术的危险液体识别方法及系统，其基于有机物细分方法计算出待检液体的有效原子序数，结合背散射信号来识别出危险液体。该方案可有效解决不同形状、材质、厚度容器对液体识别的影响，大大提高液体识别的准确率。

公开(公告)号：CN108333204A

公开(公告)日：2018-07-27

申请号：CN201711490186.3

申请日：2017-12-29

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 沈天明 ,  陈嘉敏 ,  李维姣 ,  丁志平 ,  刘伟豪 ,  常青青 ,  王德凯

IPC: G01N23/203

Abstract: 本发明公开了X射线背散射探测结构及成像方法，本方案通过采用差分式康普顿背散射探测阵列结构来实现获取差分散射信号，据此进行成像。本发明提供的方案具有分辨率高，高检测速度下更低的射线强度要求，减小物体相对位置对信号的影响提高检测效果等优点。

公开(公告)号：CN107991326A

公开(公告)日：2018-05-04

申请号：CN201711367015.1

申请日：2017-12-18

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 李维姣 ,  丁志平 ,  常青青 ,  沈天明 ,  陈嘉敏 ,  刘伟豪 ,  王德凯

IPC: G01N23/10 ,  G01V5/00

Abstract: 本发明公开了单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，该安检系统中的信号探测单元包括：散射探测器和透视探测器，所述散射探测器和透视探测器针对单射线源的单次曝光同步进行X射线散射探测和真多能透视信号探测，形成在空间和时间相互匹配的散射图像和透视图像。本发明提供的方案能够实现单射线源同时采集真多能透视与背散图像，同时检测物质的密度和原子序数等多种信息，并将物质细分为4类以上；且方案中散射与透视的性能互相不受牵制，可保证二者分辨率、穿透力等参数均达到最优。

公开(公告)号：CN103424415A

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201310283111.3

申请日：2013-07-05

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 温亚珍 ,  丁志平 ,  沈天明 ,  陈嘉敏 ,  李维姣 ,  常青青

IPC: G01N23/04 ,  A61B6/08 ,  A61B6/00

Abstract: 本发明公开了X光定位检测装置及定位检测方法，本发明利用X光打在探测器中心位置对应的若干检测点上，并由同一比对片在若干检测点上形成对应的X图像，判断若干检测点处同一比对片所成图像是否位置相同以及图像是否对称来判断若干检测点的光是否在同一平面上，由此完成X光定位检测。利用本发明提供的方案能够在X射线成像系统组装过程中安装X光源时，及时的发现X光源安装所存在的问题，并能够清晰实现X光源安装所存在的问题，便于及时精确的调整，避免后期的整体返工。

公开(公告)号：CN103424415B

公开(公告)日：2015-11-04

申请号：CN201310283111.3

申请日：2013-07-05

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 温亚珍 ,  丁志平 ,  沈天明 ,  陈嘉敏 ,  李维姣 ,  常青青

IPC: G01N23/04 ,  A61B6/08 ,  A61B6/00

Abstract: 本发明公开了X光定位检测装置及定位检测方法，本发明利用X光打在探测器中心位置对应的若干检测点上，并由同一比对片在若干检测点上形成对应的X图像，判断若干检测点处同一比对片所成图像是否位置相同以及图像是否对称来判断若干检测点的光是否在同一平面上，由此完成X光定位检测。利用本发明提供的方案能够在X射线成像系统组装过程中安装X光源时，及时的发现X光源安装所存在的问题，并能够清晰实现X光源安装所存在的问题，便于及时精确的调整，避免后期的整体返工。

公开(公告)号：CN104570339A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201510047358.4

申请日：2015-01-29

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 李志豪 ,  丁志平 ,  郑健 ,  尤晓明 ,  袁熙 ,  沈俊 ,  温亚珍 ,  李维姣 ,  疏天民 ,  常青青

IPC: G02B26/12

Abstract: 本发明公开了基于菲涅尔透镜的大口径太赫兹成像系统，该成像系统包括系统外壳、设置在系统外壳内的扫描光路和探测器，其中扫描光路中采用菲涅尔透镜。本发明提供的方案基于菲涅尔透镜对折射扫描成像系统进行改进，不仅能得到较高的分辨率和成像质量，同时使得改进后的成像系统加工简单、结构紧凑，灵敏度也远高于传统折射式扫描成像系统。

公开(公告)号：CN102110575B

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201110043438.4

申请日：2011-02-23

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 温亚珍 ,  尤晓明 ,  丁志平

IPC: H01J43/04 ,  H01J43/28

Abstract: 本发明公开的光电倍增管安装保护结构，该结构的橡胶卡套套在光电倍增管的尾管上，橡胶卡套外部加一金属外壳给其施加一定预紧力，就可以将光电倍增管紧紧的裹住，使光电倍增管不会径向窜动。橡胶卡套内有一卡槽，光电倍增管的陶瓷基座卡在该卡槽内，解决了光电倍增管轴向窜动的问题。这样光电倍增管就很难因为振动而受损了。另外整个光电倍增管密闭的放置在金属外壳内，避免了强光照射可能对光电倍增管带来的影响。安装上，橡胶卡套在一侧开有通槽，另一相对侧开有中间相连的槽，使卡套的两部分不完全断开，当放置光电倍增管时，只需沿着通槽掰开，将倍增管的尾管放置卡套的内腔内即可，操作非常便捷。本发明结构简单，封装过程简单便捷，效果好。

公开(公告)号：CN108107063A

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201711354953.8

申请日：2017-12-15

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 常青青 ,  李维姣 ,  陈嘉敏 ,  沈天明 ,  丁志平 ,  刘伟豪 ,  王德凯

IPC: G01N23/18

Abstract: 本发明公开了一种真多能的透视探测装置及方法，本方案基于光电转换单元，能量阈值比较单元以及输出单元来实现，通过能量阈值比较输出计数的方法来实现在放射源单次曝光下，进行多个真实能量透视信号的同步采集，并据此形成真多能透视图像。本发明提供的方案采用能量阈值比较输出计数的方法实现在射线源(放射源)单次曝光下，进行多个(如4个及以上)真实能量的同步探测，大大提高物质识别能力。

公开(公告)号：CN102110575A

公开(公告)日：2011-06-29

申请号：CN201110043438.4

申请日：2011-02-23

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 温亚珍 ,  尤晓明 ,  丁志平

IPC: H01J43/04 ,  H01J43/28

Abstract: 本发明公开的光电倍增管安装保护结构，该结构的橡胶卡套套在光电倍增管的尾管上，橡胶卡套外部加一金属外壳给其施加一定预紧力，就可以将光电倍增管紧紧的裹住，使光电倍增管不会径向窜动。橡胶卡套内有一卡槽，光电倍增管的陶瓷基座卡在该卡槽内，解决了光电倍增管轴向窜动的问题。这样光电倍增管就很难因为振动而受损了。另外整个光电倍增管密闭的放置在金属外壳内，避免了强光照射可能对光电倍增管带来的影响。安装上，橡胶卡套在一侧开有通槽，另一相对侧开有中间相连的槽，使卡套的两部分不完全断开，当放置光电倍增管时，只需沿着通槽掰开，将倍增管的尾管放置卡套的内腔内即可，操作非常便捷。本发明结构简单，封装过程简单便捷，效果好。

公开(公告)号：CN108121014A

公开(公告)日：2018-06-05

申请号：CN201711286625.9

申请日：2017-12-07

Applicant: 公安部第三研究所

Inventor： 丁志平 ,  李维姣 ,  沈天明 ,  常青青

IPC: G01V5/00

Abstract: 本发明公开了立体视角散射阵列探测系统及方法，本方案基于一个放射源，采用基于康普顿散射原理的立体视角散射阵列探测器，对安检物进行立体视角的散射阵列探测，形成立体视角辐射图像。本方案能够减少由于安检行李重叠引起的误判和漏检，同时减少安检设备的技术开发难度，降低安检设备的生产制造成本，解决整机体积过大的问题。