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公开(公告)号:CN100380580C
公开(公告)日:2008-04-09
申请号:CN200480003583.8
申请日:2004-01-29
CPC classification number: H01L21/28167 , H01L21/02008 , H01L21/02027 , H01L21/02381 , H01L21/02428 , H01L21/02433 , H01L21/02532 , H01L21/02658 , H01L29/045
Abstract: 本发明是用来制造{110}面的载流子移动度,特别是作为n型FET的载流子的电子的移动度显示出高的值的半导体集成电路元件用的半导体基板,不使用特别的洗净而是使用以往的RCA洗净、或不进行自由基氧化而以原子级使表面平坦化,而提供一减低表面粗糙度的硅半导体基板及其制造方法。本发明是以{110}面或以{110}面倾斜后的面作为主面的硅半导体基板,在其表面具有平均地沿着 方向的原子级的阶梯。
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公开(公告)号:CN1748287A
公开(公告)日:2006-03-15
申请号:CN200480003583.8
申请日:2004-01-29
CPC classification number: H01L21/28167 , H01L21/02008 , H01L21/02027 , H01L21/02381 , H01L21/02428 , H01L21/02433 , H01L21/02532 , H01L21/02658 , H01L29/045
Abstract: 本发明是用来制造{110}面的载流子移动度,特别是作为n型FET的载流子的电子的移动度显示出高的值的半导体集成电路元件用的半导体基板,不使用特别的洗净而是使用以往的RCA洗净、或不进行自由基氧化而以原子级使表面平坦化,而提供一减低表面粗糙度的硅半导体基板及其制造方法。本发明是以{110}面或以{110}面倾斜后的面作为主面的硅半导体基板,在其表面具有平均地沿着 方向的原子级的阶梯。
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