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公开(公告)号:CN103135362A
公开(公告)日:2013-06-05
申请号:CN201210599017.4
申请日:2012-11-21
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光图案曝光方法,光掩模及光掩模坯料。光图案曝光方法是通过光掩模向抗蚀膜照射ArF准分子激光。光掩模包括透明衬底和包含过渡金属、硅、氮和氧的材料的光学膜的图案,过渡金属、硅、氮和氧的含量在特定范围内。光掩模可被ArF准分子激光以至少10kJ/cm2的累积剂量照射过。
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公开(公告)号:CN102402117A
公开(公告)日:2012-04-04
申请号:CN201110348752.3
申请日:2011-09-09
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光掩模坯料和制造方法、光掩模、光图案曝光方法和过渡金属/硅基材料膜的设计方法。本发明特别涉及一种光掩模坯料,其具有过渡金属/硅基材料的膜,该过渡金属/硅基材料包含过渡金属、硅、氧和氮,具有至少3原子%的氧含量,并满足式:4×CSi/100-6×CM/100>1,其中CSi是以原子%计的硅含量和CM是以原子%计的过渡金属含量。
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公开(公告)号:CN104698737B
公开(公告)日:2019-04-02
申请号:CN201510140000.6
申请日:2011-09-09
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光掩模坯料和制造方法、光掩模、光图案曝光方法和过渡金属/硅基材料膜的设计方法。本发明特别涉及一种光掩模坯料,其具有过渡金属/硅基材料的膜,该过渡金属/硅基材料包含过渡金属、硅、氧和氮,具有至少3原子%的氧含量,并满足式:4×CSi/100‑6×CM/100>1,其中CSi是以原子%计的硅含量和CM是以原子%计的过渡金属含量。
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公开(公告)号:CN102402117B
公开(公告)日:2015-10-21
申请号:CN201110348752.3
申请日:2011-09-09
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光掩模坯料和制造方法、光掩模、光图案曝光方法和过渡金属/硅基材料膜的设计方法。本发明特别涉及一种光掩模坯料,其具有过渡金属/硅基材料的膜,该过渡金属/硅基材料包含过渡金属、硅、氧和氮,具有至少3原子%的氧含量,并满足式:4×CSi/100-6×CM/100>1,其中CSi是以原子%计的硅含量和CM是以原子%计的过渡金属含量。
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公开(公告)号:CN103135362B
公开(公告)日:2015-09-30
申请号:CN201210599017.4
申请日:2012-11-21
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光图案曝光方法,光掩模及光掩模坯料。光图案曝光方法是通过光掩模向抗蚀膜照射ArF准分子激光。光掩模包括透明衬底和包含过渡金属、硅、氮和氧的材料的光学膜的图案,过渡金属、硅、氮和氧的含量在特定范围内。光掩模可被ArF准分子激光以至少10kJ/cm2的累积剂量照射过。
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公开(公告)号:CN103149791B
公开(公告)日:2017-11-14
申请号:CN201210599085.0
申请日:2012-11-21
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光图案曝光方法,半色调相移掩模及半色调相移掩模坯料。光图案曝光方法是通过半色调相移掩模向抗蚀膜照射ArF准分子激光。该掩模包括透明衬底和包含过渡金属、硅、氮和氧的材料的半色调相移膜的图案,且所述材具有0.18‑0.25的原子比(Met/Si),25‑50原子%的氮含量,以及5‑20原子%的氧含量。该掩模可用ArF准分子激光以至少10kJ/cm2的累积剂量照射。
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公开(公告)号:CN104698737A
公开(公告)日:2015-06-10
申请号:CN201510140000.6
申请日:2011-09-09
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光掩模坯料和制造方法、光掩模、光图案曝光方法和过渡金属/硅基材料膜的设计方法。本发明特别涉及一种光掩模坯料,其具有过渡金属/硅基材料的膜,该过渡金属/硅基材料包含过渡金属、硅、氧和氮,具有至少3原子%的氧含量,并满足式:4×CSi/100-6×CM/100>1,其中CSi是以原子%计的硅含量和CM是以原子%计的过渡金属含量。
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公开(公告)号:CN103149791A
公开(公告)日:2013-06-12
申请号:CN201210599085.0
申请日:2012-11-21
Applicant: 信越化学工业株式会社 , 凸版印刷株式会社
Abstract: 本发明涉及一种光图案曝光方法,半色调相移掩模及半色调相移掩模坯料。光图案曝光方法是通过半色调相移掩模向抗蚀膜照射ArF准分子激光。该掩模包括透明衬底和包含过渡金属、硅、氮和氧的材料的半色调相移膜的图案,且所述材具有0.18-0.25的原子比(Met/Si),25-50原子%的氮含量,以及5-20原子%的氧含量。该掩模可用ArF准分子激光以至少10kJ/cm2的累积剂量照射。
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公开(公告)号:CN113826151A
公开(公告)日:2021-12-21
申请号:CN202080035440.4
申请日:2020-06-19
Applicant: 凸版印刷株式会社
IPC: G08B21/24 , G08B3/10 , G06K17/00 , G06K19/077
Abstract: 通过点亮部的亮灭周期而使使用者掌握主体装置与标签装置的距离。丢失物找寻系统具备主体装置和可从主体装置分离的标签装置。主体装置具备点亮部、具有收发电波信号的功能的主体侧通信部和具有检测电波信号的接收信号强度的功能的处理部。标签装置具备标签侧通信部,上述标签侧通信部具有接收由主体侧通信部发出的电波信号的功能和发出电波信号的功能。标签侧通信部在接收到由主体侧通信部发出的电波信号的情况下,将电波信号发出。在主体侧通信部接收到由标签侧通信部发出的电波信号的情况下,处理部检测由标签侧通信部发出的电波信号的接收信号强度,点亮部根据由标签侧通信部发出的电波信号的接收信号强度而以不同的周期进行亮灭。
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