磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置

    公开(公告)号:CN102819001A

    公开(公告)日:2012-12-12

    申请号:CN201210281433.X

    申请日:2008-03-28

    Inventor: 铃木成己

    CPC classification number: G01R33/12

    Abstract: 本发明目的在于提供一种磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置,即使在磁体的附近,其也允许高灵敏度磁场检测元件有效地操作;其允许定量的检测,而不依赖于介质(例如软磁材料等)的磁特性;其是紧凑的并且允许实现减小的空间;并且其具有高生产率。此外,本发明目的在于提供一种紧凑和高性能的磁性物质检测装置。具体地说,在磁性物质检测传感器中包括:产生磁场的磁体;以及磁场检测元件,其用于检测所述磁场的变化,所述磁场检测元件被部署于在除了所述磁体的NS轴中点之外的点处在与所述磁体NS轴相交的平面上,其中所述磁体的NS方向作为法线,从而所述磁场检测方向变得平行于所述平面,以及由所述磁体形成偏置磁场。

    磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置

    公开(公告)号:CN102819001B

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201210281433.X

    申请日:2008-03-28

    Inventor: 铃木成己

    CPC classification number: G01R33/12

    Abstract: 本发明目的在于提供一种磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置,即使在磁体的附近,其也允许高灵敏度磁场检测元件有效地操作;其允许定量的检测,而不依赖于介质(例如软磁材料等)的磁特性;其是紧凑的并且允许实现减小的空间;并且其具有高生产率。此外,本发明目的在于提供一种紧凑和高性能的磁性物质检测装置。具体地说,在磁性物质检测传感器中包括:产生磁场的磁体;以及磁场检测元件,其用于检测所述磁场的变化,所述磁场检测元件被部署于在除了所述磁体的NS轴中点之外的点处在与所述磁体NS轴相交的平面上,其中所述磁体的NS方向作为法线,从而所述磁场检测方向变得平行于所述平面,以及由所述磁体形成偏置磁场。

    磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置

    公开(公告)号:CN101275992B

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN200810087998.8

    申请日:2008-03-28

    Inventor: 铃木成己

    Abstract: 本发明目的在于提供一种磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置,即使在磁体的附近,其也允许高灵敏度磁场检测元件有效地操作;其允许定量的检测,而不依赖于介质(例如软磁材料等)的磁特性;其是紧凑的并且允许实现减小的空间;并且其具有高生产率。此外,本发明目的在于提供一种紧凑和高性能的磁性物质检测装置。具体地说,在磁性物质检测传感器中包括:产生磁场的磁体;以及磁场检测元件,其用于检测所述磁场的变化,所述磁场检测元件被部署于在除了所述磁体的NS轴中点之外的点处在与所述磁体NS轴相交的平面上,其中所述磁体的NS方向作为法线,从而所述磁场检测方向变得平行于所述平面,以及由所述磁体形成偏置磁场。

    磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置

    公开(公告)号:CN101275992A

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200810087998.8

    申请日:2008-03-28

    Inventor: 铃木成己

    Abstract: 本发明目的在于提供一种磁性物质检测传感器和磁性物质检测装置,即使在磁体的附近,其也允许高灵敏度磁场检测元件有效地操作;其允许定量的检测,而不依赖于介质(例如软磁材料等)的磁特性;其是紧凑的并且允许实现减小的空间;并且其具有高生产率。此外,本发明目的在于提供一种紧凑和高性能的磁性物质检测装置。具体地说,在磁性物质检测传感器中包括:产生磁场的磁体;以及磁场检测元件,其用于检测所述磁场的变化,所述磁场检测元件被部署于在除了所述磁体的NS轴中点之外的点处在与所述磁体NS轴相交的平面上,其中所述磁体的NS方向作为法线,从而所述磁场检测方向变得平行于所述平面,以及由所述磁体形成偏置磁场。

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