有机发光装置及制造所述有机发光装置的方法

    公开(公告)号:CN101351066A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200810133651.2

    申请日:2008-07-18

    Inventor: 青田幸人

    Abstract: 本发明公开了一种有机发光装置及制造所述有机发光装置的方法。在所提供的有机发光装置中,防止当移除外部连接端子上的钝化层时所产生的裂纹等随时间的逝去而扩展,并且不损坏发光区域的防湿性。所述有机发光装置包括:基板;有机平面化层,其用于对基板的不平坦进行平整;有机发光器件,其包括下电极、有机化合物层和上电极;以及钝化层,其用于覆盖有机发光器件,其中,所述有机平面化层中形成有凹入或凸出非连续部分,以用于分离包括发光区域的部位和包括外部连接端子的部位,并且所述非连续部分被所述钝化层所覆盖。

    等离子体处理方法和设备

    公开(公告)号:CN1226450C

    公开(公告)日:2005-11-09

    申请号:CN01143331.0

    申请日:2001-09-14

    CPC classification number: H01J37/32532 C23C16/515

    Abstract: 在一种等离子体处理方法中,在所述阴极的后侧设置至少一个导体板,导体板与所述阴极和相对电极直流电绝缘,并且用一屏蔽壁封闭所述阴极和导体板,以便由所述阴极和所述相对电极提供的电极间耦合电容与由所述阴极和设在所述导体板的后侧的屏蔽壁的底面提供的耦合电容之间的比率不小于一个预定值。由此,能够实现高质量的、高速的等离子体处理。

    等离子体处理方法及设备

    公开(公告)号:CN1132233C

    公开(公告)日:2003-12-24

    申请号:CN98108961.5

    申请日:1998-05-22

    CPC classification number: H01J37/32165 H01J37/32935 H01J37/3299

    Abstract: 一种等离子体处理方法,包括步骤:通过阻抗匹配电路向处理室中馈送比处理过程中的第二高频电源的功率要低的第二高频电源,然后再向该处理室馈送功率比处理过程中的第一高频电源高的第一高频电源,以生成等离子体;减小所述第一高频电源的强度,使之降到处理过程中第一高频电源的功率值的100-200%,提高所述第二高频电源的强度,使之升到处理过程中第二高频电源的功率值的70-100%,然后再调节所述第一高频电源的强度,以获得预定值的等离子体强度;使所述阻抗匹配电路进行一次匹配操作,同时调节所述第一高频电源的值,以获得一个处理过程中的理想等离子体强度值。

    等离子体处理方法及设备

    公开(公告)号:CN1212456A

    公开(公告)日:1999-03-31

    申请号:CN98108961.5

    申请日:1998-05-22

    CPC classification number: H01J37/32165 H01J37/32935 H01J37/3299

    Abstract: 一种等离子体处理方法,包括步骤:通过阻抗匹配电路向处理室中馈送比处理过程中的功率要低的第二高频电源,然后再向该处理室馈送功率比处理过程中高的第一高频电源,以生成等离子体;减小所述第一高频电源的强度,使之接近处理过程中的值,提高所述第二高频电源的强度,也使之接近处理过程中的值,然后再调节所述第一高频电源的强度,以获得预定值的等离子体强度;使所述阻抗匹配电路进行一次匹配操作,同时调节所述第一高频电源的值,以获得一个处理过程中的理想等离子体强度值。

    等离子体处理方法和设备

    公开(公告)号:CN1363721A

    公开(公告)日:2002-08-14

    申请号:CN01143331.0

    申请日:2001-09-14

    CPC classification number: H01J37/32532 C23C16/515

    Abstract: 在一种等离子体处理方法中,在所述阴极的后侧设置至少一个导体板,导体板与所述阴极和相对电极直流电绝缘,并且用一屏蔽壁封闭所述阴极和导体板,以便由所述阴极和所述相对电极提供的电极间耦合电容与由所述阴极和设在所述导体板的后侧的屏蔽壁的底面提供的耦合电容之间的比率不小于一个预定值。由此,能够实现高质量的、高速的等离子体处理。

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