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公开(公告)号:CN105700308B
公开(公告)日:2018-08-07
申请号:CN201510915702.7
申请日:2015-12-10
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G03G15/5058 , G01N21/474 , G01N2201/0642 , G02B5/003 , G03G15/04036 , G03G15/0409 , G03G15/5041 , G03G15/5054 , G03G15/5062 , G03G2215/00042 , G03G2215/00616
Abstract: 本发明涉及光学设备和包括光学设备的图像形成设备。为了防止检测精度由于杂散光而劣化,光学设备包括以下的配置。该光学设备包括:发光部件;光接收部件;以及上面安装了发光部件和光接收部件的基板。基板包含板状基板层和板状导电层。该光学设备还包括设置在光接收部件与发光部件之间且被插入到设置在光接收部件与发光部件之间的基板的通孔中的遮光部件。光接收部件从被从发光部件发射的光照射的部分接收反射光。导电层的遮光性能高于基板层的遮光性能。导电层暴露于通孔的内圆柱表面。
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公开(公告)号:CN105700308A
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201510915702.7
申请日:2015-12-10
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G03G15/5058 , G01N21/474 , G01N2201/0642 , G02B5/003 , G03G15/04036 , G03G15/0409 , G03G15/5041 , G03G15/5054 , G03G15/5062 , G03G2215/00042 , G03G2215/00616 , G03G15/0189 , G01D5/26
Abstract: 本发明涉及光学设备和包括光学设备的图像形成设备。为了防止检测精度由于杂散光而劣化,光学设备包括以下的配置。该光学设备包括:发光部件;光接收部件;以及上面安装了发光部件和光接收部件的基板。基板包含板状基板层和板状导电层。该光学设备还包括设置在光接收部件与发光部件之间且被插入到设置在光接收部件与发光部件之间的基板的通孔中的遮光部件。光接收部件从被从发光部件发射的光照射的部分接收反射光。导电层的遮光性能高于基板层的遮光性能。导电层暴露于通孔的内圆柱表面。
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