-
公开(公告)号：CN105655216A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201510847901.9
申请日：2015-11-27
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01J35/08
CPC classification number: H01J35/08 , H01J35/06 , H01J35/14 , H01J35/16 , H01J2235/087 , H01J2235/088 , H01J2235/168 , H05G1/10
Abstract: 本发明涉及X射线发生管、X射线发生装置和射线照相系统。X射线发生管包括：阳极，包括被配置为在电子的照射下生成X射线的靶，以及与所述靶电连接的阳极构件；阴极，包括被配置为沿着朝向所述靶的方向发射电子束的电子发射源，以及与所述电子发射源电连接的阴极构件；以及绝缘管，在所述阳极构件和所述阴极构件之间延伸。所述阳极还包括与所述阳极构件电连接的内周阳极层，所述内周阳极层沿着所述绝缘管的内周面延伸，并且远离所述阴极构件。
-
公开(公告)号：CN103426707A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310168505.4
申请日：2013-05-09
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 盐泽崇史
IPC: H01J37/12
CPC classification number: H01J37/10 , H01J3/18 , H01J37/12 , H01J2237/038 , H01J2237/31774
Abstract: 本发明涉及一种带电粒子束透镜。带电粒子束透镜包括板状阳极、板状阴极和设置在阳极与阴极之间的绝缘体。绝缘体、阳极和阴极具有带电束从其中通过的通道部分。高电阻膜在绝缘体的形成通道部分的内侧面或绝缘体的最外侧面上形成，并且，阳极和阴极通过高电阻膜被电连接在一起。阳极和高电阻膜、阴极和高电阻膜分别包含相同的金属或半导体元素并具有不同的电阻值。这抑制由于阳极和阴极与高电阻膜之间的界面处或导电膜与高电阻膜之间的界面处的电阻增加和连接不良导致的电场集中，由此抑制放电的产生。
-
公开(公告)号：CN105793953B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201480064844.0
申请日：2014-09-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H01J35/16 , A61B6/0407 , A61B6/502 , G21K1/02 , H01J35/06 , H01J35/08 , H01J2235/087 , H01J2235/166 , H05G1/10
Abstract: 包含靶阵列和X射线检测单元的放射线摄影装置。靶阵列包含多个靶和前方遮蔽部件。前方遮蔽部件包含多个隔开物。X射线检测单元包含检测部分。隔开物分别具有其倾角沿阵列方向改变的倾斜表面。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104288916B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201410337320.6
申请日：2014-07-16
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G21K1/046 , G01J1/0462 , G21K1/04 , H05G1/02
Abstract: 照射野限制装置，与X射线发生装置相连，包括一对第一限制叶片，该第一限制叶片限定了供辐射穿过的开口的宽度；具有第一开口宽度调节轴的第一开口宽度调节机构，该第一开口宽度调节轴可操作以通过使这对第一限制叶片朝向或远离彼此移动来调节开口宽度；和具有第一开口中心调节轴的第一开口中心调节机构，该第一开口中心调节轴可操作以通过沿同一方向移动这对第一限制叶片来调节开口的中心位置；第一开口宽度调节轴和第一开口中心调节轴同轴地布置。还涉及X射线发生装置和X射线放射照相系统。
-
公开(公告)号：CN117406181A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202310865719.0
申请日：2023-07-14
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 盐泽崇史
Abstract: 本发明涉及测距装置的校准方法、测距装置和存储介质。一种测距装置的校准方法，测距装置搭载在移动体内部、在透明体介入的情况下拍摄移动体的外部并通过使用从至少两个视点拍摄到的图像之间的视差来计算到被摄体的距离，该方法包括：第一处理，用于在透明体不介入的情况下，拍摄第一校准用被摄体和测距装置之间的距离不同的第一校准用图像和第二校准用图像，并计算用于将根据第一校准用图像和第二校准用图像各自的图像信息所计算出的视差信息转换为距离信息的校正信息；以及第二处理，用于经由透明体从至少位于一个距离处的第二校准用被摄体拍摄第三校准用图像，并基于至少所拍摄到的第三校准用图像的图像信息来修改第一处理中计算出的校正信息。
-
公开(公告)号：CN105655216B
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201510847901.9
申请日：2015-11-27
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01J35/08
CPC classification number: H01J35/08 , H01J35/06 , H01J35/14 , H01J35/16 , H01J2235/087 , H01J2235/088 , H01J2235/168 , H05G1/10
Abstract: 本发明涉及X射线发生管、X射线发生装置和射线照相系统。X射线发生管包括：阳极，包括被配置为在电子的照射下生成X射线的靶，以及与所述靶电连接的阳极构件；阴极，包括被配置为沿着朝向所述靶的方向发射电子束的电子发射源，以及与所述电子发射源电连接的阴极构件；以及绝缘管，在所述阳极构件和所述阴极构件之间延伸。所述阳极还包括与所述阳极构件电连接的内周阳极层，所述内周阳极层沿着所述绝缘管的内周面延伸，并且远离所述阴极构件。
-
公开(公告)号：CN105793953A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201480064844.0
申请日：2014-09-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H01J35/16 , A61B6/0407 , A61B6/502 , G21K1/02 , H01J35/06 , H01J35/08 , H01J2235/087 , H01J2235/166 , H05G1/10
Abstract: 包含靶阵列和X射线检测单元的放射线摄影装置。靶阵列包含多个靶和前方遮蔽部件。前方遮蔽部件包含多个隔开物。X射线检测单元包含检测部分。隔开物分别具有其倾角沿阵列方向改变的倾斜表面。
-
公开(公告)号：CN104288916A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201410337320.6
申请日：2014-07-16
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G21K1/046 , G01J1/0462 , G21K1/04 , H05G1/02
Abstract: 照射野限制装置，与X射线发生装置相连，包括一对第一限制叶片，该第一限制叶片限定了供辐射穿过的开口的宽度；具有第一开口宽度调节轴的第一开口宽度调节机构，该第一开口宽度调节轴可操作以通过使这对第一限制叶片朝向或远离彼此移动来调节开口宽度；和具有第一开口中心调节轴的第一开口中心调节机构，该第一开口中心调节轴可操作以通过沿同一方向移动这对第一限制叶片来调节开口的中心位置；第一开口宽度调节轴和第一开口中心调节轴同轴地布置。还涉及X射线发生装置和X射线放射照相系统。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.018 seconds)
