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公开(公告)号：CN101794835B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201010135255.0
申请日：2005-07-28
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01S1/02
CPC classification number: H01L31/08 , G01N21/3581 , H01S1/02
Abstract: 本发明提供了一种光学半导体器件，其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10)，其中，当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时，所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面，其间夹着所述半导体薄膜。
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公开(公告)号：CN101059454B
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN200710096534.9
申请日：2007-04-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/03 , G01N21/3577 , G01N22/00 , G01N2021/0346 , G01N2021/035
Abstract: 本发明提供了一种用于检测液体对象或样本的信息的检测装置，包括：传输路径、THz波提供单元、THz波检测单元和用于渗入和保持液体对象的渗透保持部件。提供单元将在30GHz到30THz频率范围中的电磁波提供到传输路径中。检测单元检测传输通过传输路径的THz波。渗透保持部件被设置在这样的位置：沿传输路径传播的THz波的电场分布在其至少一部分中延伸。
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公开(公告)号：CN101258399A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200680032300.1
申请日：2006-08-31
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3504 , G01N21/3563 , G01N21/3577 , G01N21/774 , G01N2021/7736 , G01N2021/7776
Abstract: 本发明的一个目的是提供低损耗波导。提供了一种波导，包括由导体形成的单线和包覆所述单线的介电部件，所述介电部件具有间隙。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101059454A
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200710096534.9
申请日：2007-04-11
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N23/00
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/03 , G01N21/3577 , G01N22/00 , G01N2021/0346 , G01N2021/035
Abstract: 本发明提供了一种用于检测液体对象或样本的信息的检测装置，包括：传输路径、THz波提供单元、THz波检测单元和用于渗入和保持液体对象的渗透保持部件。提供单元将在30GHz到30THz频率范围中的电磁波提供到传输路径中。检测单元检测传输通过传输路径的THz波。渗透保持部件被设置在这样的位置：沿传输路径传播的THz波的电场分布在其至少一部分中延伸。
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公开(公告)号：CN113253356B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202110183859.0
申请日：2021-02-10
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 本发明公开了太赫兹波相机系统和用于控制太赫兹波相机系统的方法。太赫兹波相机系统包括：第一发送单元，所述第一发送单元能够发射第一太赫兹波；第二发送单元，所述第二发送单元被设置在与所述第一发送单元的位置不同的位置并且能够发射第二太赫兹波；检测单元，所述检测单元能够检测第一反射太赫兹波或者第二反射太赫兹波中的至少一个，并且输出基于检测的太赫兹波的图像数据，所述第一反射太赫兹波是从被照体反射的所述第一太赫兹波的一部分，所述第二反射太赫兹波是从所述被照体反射的所述第二太赫兹波的一部分；以及第一控制单元，所述第一控制单元被配置为在基于所述图像数据设定的条件下，控制所述第一发送单元的操作或者所述第二发送单元的操作中的至少一个。
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公开(公告)号：CN116914408A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310382742.4
申请日：2023-04-11
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 本公开涉及天线装置、通信装置和图像捕获系统。提供了一种天线装置，包括：有源天线，有源天线包括天线、被配置为作为振荡器操作的半导体结构，以及被配置为向半导体结构给予电位差的至少两条电力线，并且有源天线被配置为生成或检测电磁波；以及控制线，电连接到该至少两条电力线之一，并被配置为注入用于控制有源天线中的振荡器的相位的信号。
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公开(公告)号：CN104160555A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201380012667.7
申请日：2013-02-12
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: H04N5/332 , G01J5/10 , G01J2005/106 , H01Q9/16 , H01Q23/00
Abstract: 本发明涉及一种用于辐射或者接收电磁波的装置。该装置包括基板，该基板包括被反射所述电磁波的材料涂布的凹部、辐射或者接收所述电磁波的金属部、以及在所述基板上连接到所述金属部的电子元件。该金属部包括设置在所述凹部的开口上方的部分、以及位于所述基板上并且连接到所述电子元件的部分。
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公开(公告)号：CN101498654B
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN200910009706.3
申请日：2009-01-23
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3504 , G01N21/3563 , G01N21/3577
Abstract: 提供一种检查装置，该检查装置包括：太赫兹波检测部分；波形成形部分，被配置为通过使用在上述的太赫兹波检测部分中获取的信号，使关于太赫兹波的第一应答信号成形；测量条件获取部分，被配置为获取第一测量条件；应答信号存储部分，被配置为存储与测量条件相对应的第二应答信号；选择部分，被配置为从上述的应答信号存储部分选择上述的第二应答信号；以及信号处理部分，被配置为基于上述的第二应答信号，对于上述的第一应答信号进行解卷积。
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