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公开(公告)号：CN102680210A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210066688.4
申请日：2012-03-14
Applicant: 住友电气工业株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/088
Abstract: 本发明公开一种简易的光纤弯曲性能的测量方法。在如下状态下测量从光纤的另一端射出的光的功率P1：在光纤(1)围绕心轴(2)的外周侧以恒定节距缠绕一层并且用折射率匹配片材(5)覆盖如此缠绕的光纤(1)的整个外周的情况下，使光入射至光纤的另一端。所述折射率匹配片材(5)的折射率与所述光纤(1)的最外层的树脂的折射率基本匹配。
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