反射率测定装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1825091A

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:CN200610006486.5

    申请日:2006-02-06

    CPC classification number: G01N21/4738 G01N21/8483 G01N2021/478

    Abstract: 一种反射率测定装置,即使被载置于微芯片上的被测定部位(试纸)被透明构件所覆盖,而被测定部位上的检体量是μl量级的微量的情况下,仍可获得良好的检出灵敏度。该反射率测定装置,具备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部(7、8)与受光部(9),在微芯片(1)的被测定部位(4)上照射来自光放出部(7、8)的光,以受光部(9)来接受来自被测定部位(4)的反射光,以测定被测定部位(4)的反射率,其特征为,是将微芯片(1)的被测定部位(4)以透明构件(6)覆盖的构造,即,光放出部(7、8)配置在被测定部位(4)的正上方,来自光放出部(7、8)的照射区域被收敛在被测定部位(4)内,在包含光放出部(7、8)的发光中心点而垂直于微芯片(1)的假想面上,对于被测定部位(4)的照射区域的端部上的法线,令反射光所形成的角度为θ(°),令被测定部位正上方所配置的光放出部(7、8)所放射出来的光的扩张角为α(°),令透明构件(6)的折射率为n时,受光部(9)配置在满足(1/2)α≤θ≤sin-1(1/n)的关系的角度范围θ内。

    吸光度测定单元
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100538332C

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200510106812.5

    申请日:2005-09-22

    Abstract: 本发明提供一种微片用的吸光度测定单元,即使将放电灯用作测定用光源而进行微片的吸光度测定,测定误差也很小。一种吸光度测定单元,是一种使用微片的吸光度测定单元,由微片和装入该微片的片架构成,其中,该微片由相互贴合的两张板部件构成,在贴合面具有空洞部,该空洞部连通地构成分析液导入部、试剂蓄积部、试剂混合部、和沿该板部件的一端面直线状地配置的吸光度测定部,其中,在片架上形成毛细管部,该毛细管部,其光轴与该吸光度测定部一致,具有比该吸光度测定部的垂直于光轴的剖面径小的开口径,用于导入光。

    治疗器具用附件、治疗器具用的带袋体附件及治疗装置

    公开(公告)号:CN109310876A

    公开(公告)日:2019-02-05

    申请号:CN201780036839.2

    申请日:2017-06-13

    Abstract: 一种治疗器具用附件具备:固定部,固定于治疗器具,所述治疗器具具有用于将光朝向外部放射的放射部;筒状部,以从放射部突出的方式配置,从放射部放射出的光通过筒状部的内部;和开口,配置于筒状部的内部,供从放射部放射出的光通过,筒状部的侧周部透明地形成,以能够从侧周部的外侧视觉识别开口。

    微芯片检查装置及其构成部件

    公开(公告)号:CN1776403A

    公开(公告)日:2006-05-24

    申请号:CN200510125124.3

    申请日:2005-11-18

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种即使使用放电灯作为光源时,也可得到高测定精度的微芯片检查装置、以及用于该微芯片检查装置的微芯片及芯片架。一种微芯片检查装置,具备具有吸光光度测定部的微芯片,透过微芯片的吸光光度测定部的由光源放射的光在透射光受光部被接受,其特征在于,设有:孔径部,沿所述微芯片的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸,并通过使从其一端射入的由光源放射的光从另一端射出而将其导入所述微芯片的该吸光光度测定部;入射光分割反射镜,配置于从孔径部的一端至吸光光度测定部的光路上,且使射入的光的一部分透射,使另一部分反射;以及反射光受光部,用于接受来自该反射镜的反射光。

    反射率测定装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1825091B

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200610006486.5

    申请日:2006-02-06

    CPC classification number: G01N21/4738 G01N21/8483 G01N2021/478

    Abstract: 一种反射率测定装置,即使被载置于微芯片上的被测定部位(试纸)被透明构件所覆盖,而被测定部位上的检体量是μl量级的微量的情况下,仍可获得良好的检出灵敏度。该反射率测定装置,具备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部(7、8)与受光部(9),在微芯片(1)的被测定部位(4)上照射来自光放出部(7、8)的光,以受光部(9)来接受来自被测定部位(4)的反射光,以测定被测定部位(4)的反射率,其特征为,是将微芯片(1)的被测定部位(4)以透明构件(6)覆盖的构造,即,光放出部(7、8)配置在被测定部位(4)的正上方,来自光放出部(7、8)的照射区域被收敛在被测定部位(4)内,在包含光放出部(7、8)的发光中心点而垂直于微芯片(1)的假想面上,对于被测定部位(4)的照射区域的端部上的法线,令反射光所形成的角度为θ(°),令被测定部位正上方所配置的光放出部(7、8)所放射出来的光的扩张角为α(°),令透明构件(6)的折射率为n时,受光部(9)配置在满足(1/2)α≤θ≤sin-1(1/n)的关系的角度范围θ内。

    微芯片检查装置及其构成部件

    公开(公告)号:CN100570331C

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200510125124.3

    申请日:2005-11-18

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种即使使用放电灯作为光源时,也可得到高测定精度的微芯片检查装置、以及用于该微芯片检查装置的微芯片及芯片架。一种微芯片检查装置,具备具有吸光光度测定部的微芯片,透过微芯片的吸光光度测定部的由光源放射的光在透射光受光部被接受,其特征在于,设有:孔径部,沿所述微芯片的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸,并通过使从其一端射入的由光源放射的光从另一端射出而将其导入所述微芯片的该吸光光度测定部;入射光分割反射镜,配置于从孔径部的一端至吸光光度测定部的光路上,且使射入的光的一部分透射,使另一部分反射;以及反射光受光部,用于接受来自该反射镜的反射光。

    吸光度测定单元
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1752740A

    公开(公告)日:2006-03-29

    申请号:CN200510106812.5

    申请日:2005-09-22

    Abstract: 本发明提供一种微片用的吸光度测定单元,即使将放电灯用作测定用光源而进行微片的吸光度测定,测定误差也很小。一种吸光度测定单元,是一种使用微片的吸光度测定单元,由微片和装入该微片的片架构成,其中,该微片由相互贴合的两张板部件构成,在贴合面具有空洞部,该空洞部连通地构成分析液导入部、试剂蓄积部、试剂混合部、和沿该板部件的一端面直线状地配置的吸光度测定部,其中,在片架上形成毛细管部,该毛细管部,其光轴与该吸光度测定部一致,具有比该吸光度测定部的垂直于光轴的剖面径小的开口径,用于导入光。

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