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公开(公告)号：CN113227732B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN201980085558.5
申请日：2019-12-20
Applicant: 伊耐斯克泰克-计算机科学与技术系统工程研究所
Inventor： R·M·达科斯塔马丁斯 , P·A·达席尔瓦豪尔赫
IPC: G01J3/28 , G06F18/232 , G01J3/36
Abstract: 本发明涉及校准光谱信息/光谱学装置的领域，诸如校准由高分辨率电磁光谱、如激光诱导击穿光谱(LIBS)组成的光谱信息。本发明的目的是一种包括多个传感器的光谱学装置的校准方法和一种用于传递从第一光谱学装置和第二光谱学装置获得的光谱信息的方法。本发明的方法允许得到来自所述电磁光谱的准确限定的光谱线并且在两个不同位点获得电磁光谱，其中两个不同的光谱学装置和物理样本仍然提供在此类光谱学装置中的每一个中获得的电磁光谱之间的可靠比较。
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公开(公告)号：CN112513616B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN201980049966.5
申请日：2019-07-31
Applicant: 伊耐斯克泰克-计算机科学与技术系统工程研究所
Inventor： R·M·达科斯塔马丁斯 , P·A·达席尔瓦豪尔赫 , E·A·佩雷拉席尔瓦 , J·M·阿尔梅达苏亚雷斯 , A·M·德奥利维拉马丁斯
Abstract: 本发明涉及机器学习领域，特别是用于分析高分辨率或超分辨率光谱数据的机器学习，分析所述数据通常包括分析高度复杂的样本/物质的混合物和/或具有低分辨率的数据，例如激光诱导击穿光谱技术(LIBS)。本发明的一个目的是一种用于根据样本的电磁光谱信息表征这种样本中的一种或多种成分的计算自学习方法，所述方法通过以下方式改变与现有技术方法相关联的范例：仅使用亚光光谱信息，即获得所述光谱信息的分辨率，并由此能够从这种光谱信息提取光谱线—从而确定光谱线位置，因此避免与基于像素的方法相关联的所有不确定性。本发明的又一目的是一种被配置来实现这种方法的计算设备。
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公开(公告)号：CN113227732A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201980085558.5
申请日：2019-12-20
Applicant: 伊耐斯克泰克-计算机科学与技术系统工程研究所
Inventor： R·M·达科斯塔马丁斯 , P·A·达席尔瓦豪尔赫
Abstract: 本发明涉及校准光谱信息/光谱学装置的领域，诸如校准由高分辨率电磁光谱、如激光诱导击穿光谱(LIBS)组成的光谱信息。本发明的目的是一种包括多个传感器的光谱学装置的校准方法和一种用于传递从第一光谱学装置和第二光谱学装置获得的光谱信息的方法。本发明的方法允许得到来自所述电磁光谱的准确限定的光谱线并且在两个不同位点获得电磁光谱，其中两个不同的光谱学装置和物理样本仍然提供在此类光谱学装置中的每一个中获得的电磁光谱之间的可靠比较。
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公开(公告)号：CN112513616A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201980049966.5
申请日：2019-07-31
Applicant: 伊耐斯克泰克-计算机科学与技术系统工程研究所
Inventor： R·M·达科斯塔马丁斯 , P·A·达席尔瓦豪尔赫 , E·A·佩雷拉席尔瓦 , J·M·阿尔梅达苏亚雷斯 , A·M·德奥利维拉马丁斯
Abstract: 本发明涉及机器学习领域，特别是用于分析高分辨率或超分辨率光谱数据的机器学习，分析所述数据通常包括分析高度复杂的样本/物质的混合物和/或具有低分辨率的数据，例如激光诱导击穿光谱技术(LIBS)。本发明的一个目的是一种用于根据样本的电磁光谱信息表征这种样本中的一种或多种成分的计算自学习方法，所述方法通过以下方式改变与现有技术方法相关联的范例：仅使用亚光光谱信息，即获得所述光谱信息的分辨率，并由此能够从这种光谱信息提取光谱线—从而确定光谱线位置，因此避免与基于像素的方法相关联的所有不确定性。本发明的又一目的是一种被配置来实现这种方法的计算设备。
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