相对介电常数测试系统、方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN111474411A

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN202010332491.5

    申请日:2020-04-24

    Abstract: 本申请涉及一种相对介电常数测试系统、方法、装置和存储介质;相对介电常数测试系统,包括粘接于待测介质的基片下表面的微带接地层,以及设于待测介质的基片上表面的谐振导带;还包括:测试设备;测试设备测量谐振导带的实测谐振频率;连接测试设备的处理器;处理器获取实测谐振频率以及待测介质的实测基片厚度,并采用预设对应关系处理实测谐振频率和实测基片厚度,得到待测介质的相对介电常数测量值;本申请可以在不破坏待测介质的前提下,利用谐振法实现待测介质的相对介电常数的测试,测试结果准确,方法简易,能降低测试成本。

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