-
公开(公告)号：CN106092970A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610399412.6
申请日：2016-06-07
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
CPC classification number: G01N21/4738 , G02B5/0284 , G02B27/10
Abstract: 本发明公开了一种光学检测系统及光学检测设备，第一入射单元提供第一入射光线，并将第一入射光线以预设角度传输至处理单元；第二入射单元提供第二入射光线，并将第二入射光线以若干个角度传输至处理单元；处理单元将第一入射光线和第二入射光线进行处理后以多角度照射到待测基板的表面，经漫反射后形成测试光线传输至生成单元；生成单元根据测试光线，生成待测基板的表面结构的灰度图。由于第一入射单元和第二入射单元的配合，可以实现多角度收集待测基板上的各膜层的灰度信息，得到良好的灰阶成像效果，准确地表现待测基板表面结构的最真实灰度图，进而有效检出不良，提升了检测能力，确保产品后端良率。
-
公开(公告)号：CN113066412B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202110344715.9
申请日：2021-03-29
Applicant: 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明提供一种阵列基板的电路控制方法、检测方法、制备方法，属于显示技术领域，其可解决现有的OLED显示面板容易出现亮点带线亮点簇类型的不良显示现象智能在面板检测阶段检测出，无法进行修复的问题。本发明的阵列基板的电路控制方法，用于阵列基板的检测阶段过程中，对阵列基板的电路进行控制；电路控制方法包括：向像素电路的控制端写入关断信号，以使像素电路关断；初始化阶段：向至少部分信号线写入第一充电信号；向感测单元的控制端写入第一控制信号，向感测单元的第二端写入第一感测信号，以使感测单元关断；检测阶段：向感测单元的控制端写入第二控制信号，以使感测单元开启，并将第二感测信号写入像素电压输出端。
-
公开(公告)号：CN107102181A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710549804.0
申请日：2017-07-07
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 一种测试探针、测试装置及测试方法。该测试探针包括针架以及至少部分伸入所述针架内部且可与所述针架相对移动的动针。所述动针配置为在相对所述针架移动的第一行程内与所述针架电连接以输出测试信号，在相对所述针架移动的第二行程内与所述针架断开电连接。该测试探针可以有效避免基板的扎伤风险。
-
公开(公告)号：CN112838059B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN201911158931.3
申请日：2019-11-22
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种阵列基板及其制作方法，该制作方法包括：在衬底基板上形成多个像素电极、多条数据线、多条公共电压线和连接部的图案，每一公共电压线与相邻各像素电极经连接部电连接；对各数据线加载测试信号后，接收并比较经各数据线传输后的测试信号，在判定至少一条数据线传输后的测试信号与其他数据线传输后的测试信号不同时，确定该至少一条数据线与像素电极之间存在短路残留物，去除短路残留物；该至少一条数据线的数量小于其他数据线的数量；刻蚀连接部，使公共电压线与像素电极绝缘。通过将公共电压线与相邻的各像素电极电连接，使短路残留物造成的数据线与像素电极之间的点不良转换成线不良，从而便于检测出短路残留物。
-
公开(公告)号：CN112838059A
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN201911158931.3
申请日：2019-11-22
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种阵列基板及其制作方法，该制作方法包括：在衬底基板上形成多个像素电极、多条数据线、多条公共电压线和连接部的图案，每一公共电压线与相邻各像素电极经连接部电连接；对各数据线加载测试信号后，接收并比较经各数据线传输后的测试信号，在判定至少一条数据线传输后的测试信号与其他数据线传输后的测试信号不同时，确定该至少一条数据线与像素电极之间存在短路残留物，去除短路残留物；该至少一条数据线的数量小于其他数据线的数量；刻蚀连接部，使公共电压线与像素电极绝缘。通过将公共电压线与相邻的各像素电极电连接，使短路残留物造成的数据线与像素电极之间的点不良转换成线不良，从而便于检测出短路残留物。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106092970B
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201610399412.6
申请日：2016-06-07
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光学检测系统及光学检测设备，第一入射单元提供第一入射光线，并将第一入射光线以预设角度传输至处理单元；第二入射单元提供第二入射光线，并将第二入射光线以若干个角度传输至处理单元；处理单元将第一入射光线和第二入射光线进行处理后以多角度照射到待测基板的表面，经漫反射后形成测试光线传输至生成单元；生成单元根据测试光线，生成待测基板的表面结构的灰度图。由于第一入射单元和第二入射单元的配合，可以实现多角度收集待测基板上的各膜层的灰度信息，得到良好的灰阶成像效果，准确地表现待测基板表面结构的最真实灰度图，进而有效检出不良，提升了检测能力，确保产品后端良率。
-
公开(公告)号：CN110728937B
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN201911063446.8
申请日：2019-10-31
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC: G09G3/00 , G09G3/3266
Abstract: 本申请实施例提供了一种阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置。阵列基板包括栅极驱动区域，栅极驱动区域设置有栅极驱动电路，栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元，移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在第一检测点和第二检测点之间的子电路。本实施例的故障激发方法包括：在预设时长内，将第一检测点与第二检测点之间的压差设置为预定压差，若子电路不存在潜在故障，则子电路不导通，若子电路存在潜在故障，则潜在故障在预定压差的作用下被激发为实际故障。本实施例能够避免存在潜在故障的阵列基板进入后续制程，以降低生产成本并提高良品率；并能够避免施加在两个检测点之间的电压对阵列基板产生破坏。
-
公开(公告)号：CN113066412A
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202110344715.9
申请日：2021-03-29
Applicant: 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明提供一种阵列基板的电路控制方法、检测方法、制备方法，属于显示技术领域，其可解决现有的OLED显示面板容易出现亮点带线亮点簇类型的不良显示现象智能在面板检测阶段检测出，无法进行修复的问题。本发明的阵列基板的电路控制方法，用于阵列基板的检测阶段过程中，对阵列基板的电路进行控制；电路控制方法包括：向像素电路的控制端写入关断信号，以使像素电路关断；初始化阶段：向至少部分信号线写入第一充电信号；向感测单元的控制端写入第一控制信号，向感测单元的第二端写入第一感测信号，以使感测单元关断；检测阶段：向感测单元的控制端写入第二控制信号，以使感测单元开启，并将第二感测信号写入像素电压输出端。
-
公开(公告)号：CN110728937A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201911063446.8
申请日：2019-10-31
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC: G09G3/00 , G09G3/3266
Abstract: 本申请实施例提供了一种阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置。阵列基板包括栅极驱动区域，栅极驱动区域设置有栅极驱动电路，栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元，移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在第一检测点和第二检测点之间的子电路。本实施例的故障激发方法包括：在预设时长内，将第一检测点与第二检测点之间的压差设置为预定压差，若子电路不存在潜在故障，则子电路不导通，若子电路存在潜在故障，则潜在故障在预定压差的作用下被激发为实际故障。本实施例能够避免存在潜在故障的阵列基板进入后续制程，以降低生产成本并提高良品率；并能够避免施加在两个检测点之间的电压对阵列基板产生破坏。
-
公开(公告)号：CN110288933A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910553348.6
申请日：2019-06-25
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明公开了一种电致发光阵列基板的检测方法及装置，通过控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区，相当于使驱动晶体管形成导线，以直接将阳极与第一电源信号端导通，从而使阳极上的电压可以稳定为第一电源信号端的电压，进而可以避免由于驱动晶体管的阈值电压Vth的漂移对阳极上电压的干扰。并且，通过对电致发光阵列基板进行光照，可以得到各子像素对应的第一检测数值。由于阳极上存在油污、颗粒等杂质时与阳极上不存在油污、颗粒等杂质时，穿过电致发光阵列基板的光强不同，这样使得第一检测数值也会不同，因此至少根据各子像素对应的第一检测数值，可以确定出电致发光阵列基板是否存在不良，以将不良检测出。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
15
records
(took 0.049 seconds)
