关键尺寸测量方法和系统

    公开(公告)号:CN104655019B

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201510128142.0

    申请日:2015-03-23

    Abstract: 本发明提供了一种关键尺寸测量方法和系统,其中的关键尺寸测量系统包括第一设备和第二设备,所述第一设备用于依次对每一块待测基板进行拍摄,并将包括拍摄结果与基板标识的数据包发送至所述第二设备;所述第二设备用于接收并存储来自所述第一设备的数据包,并根据数据包中的拍摄结果进行与数据包中的基板标识对应的待测基板的关键尺寸的测量。基于上述方案,本发明可以解决现有技术中不能正常匹配特征图片时设备暂停运行会导致设备稼动率严重下降的问题。与不能正常匹配特征图片时设备暂停运行的现有技术相比,本发明可以提高关键尺寸测量的设备运行效率,提升设备稼动率。

    液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法

    公开(公告)号:CN104820304B

    公开(公告)日:2017-12-08

    申请号:CN201510278609.X

    申请日:2015-05-27

    Abstract: 本发明的实施例提供一种液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法,属于显示器技术领域,用于使液晶显示设备内的液晶特性测试更加准确,该液晶特性测试装置包括:测试电极、引线和测试元件组,测试电极设置于显示面板的封框胶外侧,测试元件组设置于显示面板的布线区域,引线穿过封框胶电连接测试电极和测试元件组,测试电极包括:第一电极和第二电极,引线包括:第一引线和第二引线;测试元件组包括:第一透明电极图案、第二透明电极图案以及绝缘结构第一电极通过第一引线电连接第一透明电极图案,第二电极通过第二引线电连接第二透明电极图案。本发明的实施例用于显示器的制造。

    一种晶体管、像素单元、阵列基板和显示装置

    公开(公告)号:CN103545379B

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201310547551.5

    申请日:2013-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种薄膜晶体管,包括:栅电极、栅绝缘层、有源层和源漏极层,另外还包括:修正电极层,设置在所述栅电极的底部。通过在栅电极的底部形成栅电极金属层之前预先沉积一层修正电极,增加修正电极层这样一层垫片结构,能够保证光刻胶涂覆之后未曝光之前,光刻胶的表面是一个平面,使得曝光显影之后非薄膜晶体管沟道弯曲处光刻胶的厚度与薄膜晶体管沟道弯曲处光刻胶的厚度的差值减小了透明电极的厚度,缩小两者的厚度差异,避免薄膜晶体管沟道弯曲处光刻胶偏薄的现象,保证沟道内所有光刻胶厚度的均匀性,降低薄膜晶体管沟道弯曲处开路发生的概率。同时还提供了基于上述薄膜晶体管的像素单元和阵列基板,及基于该阵列基板的显示装置。

    一种阵列基板及其制备方法、显示面板和显示装置

    公开(公告)号:CN104932160A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510369473.3

    申请日:2015-06-26

    CPC classification number: G02F1/136227 G02F1/133345 G02F1/136209

    Abstract: 本发明公开了一种阵列基板及其制备方法、显示面板和显示装置,以解决阵列基板在加热烘烤工艺处理时,阵列基板的有机绝缘膜在过孔处发生流动的问题。所述阵列基板,包括衬底基板及之上的栅极金属层、栅极绝缘层、源漏电极层和有机绝缘膜层;所述栅极金属层包括多个过孔垫环;所述栅极绝缘层形成有与所述过孔垫环对应的第一环状凸起;所述源漏电极层形成有多个导电电极,所述导电电极位于所述过孔垫环的上方,并具有与所述过孔垫环对应的第二环状凸起;所述有机绝缘膜层形成有与所述导电电极位置对应的连接孔;其中,所述有机绝缘膜层覆盖所述第二环状凸起,且所述连接孔在所述衬底基板上的投影落于所述过孔垫环在所述衬底基板上的投影之内。

Patent Agency Ranking