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公开(公告)号：CN115406904A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202110581556.4
申请日：2021-05-26
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本申请提供了一种不良检测装置、不良检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，其中，不良检测装置用于检测透明基板，不良检测装置中的第一图像生成装置靠近第一表面设置，通过第一图像生成装置采集透明基板的第一图像；第二图像生成装置靠近第二表面设置，通过第二图像生成装置采集透明基板的第二图像，然后根据第一图像和第二图像，确定不良检测结果。
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公开(公告)号：CN109742107B
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN201910005277.6
申请日：2019-01-03
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种OLED器件及其制备方法和显示面板，所述OLED器件包括形成在衬底基板上的像素界定层，以及包括第一阳极和第二阳极的阳极层，像素界定层的开口区内容置有有机发光功能层，第一阳极至少覆盖像素界定层的开口区的底部，第二阳极至少覆盖开口区的部分侧壁，且第二阳极的材料为反射材料，这样，可以增加反射面积，提高光利用率，避免光能浪费，从而提高显示亮度；这样，无需增加驱动电压即可提升亮度，可以延长蓝光发光材料和OLED器件的使用寿命；而且，第二阳极位于像素界定层和有机发光功能层之间，包裹住有机发光功能层，可以阻隔水汽进入有机发光功能层内，提升OLED器件的WVTR性能。
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公开(公告)号：CN116563200A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202210104314.0
申请日：2022-01-28
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
IPC: G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06V10/764 , G06V10/46 , G06V10/80 , G06V10/82
Abstract: 本申请公开了一种显示面板的缺陷检测方法、模型训练方法、电子设备以及存储介质。缺陷检测方法包括：获取光学系统采集显示面板的待检测图像，并对待检测图像进行预设编码处理得到多层编码特征图像，以及利用缺陷检测模型对多层编码特征图像进行分类处理得到缺陷检测结果。本申请的缺陷检测方法能够根据待检测图像来及时快速的准确的对出显示面板经U‑Lami工艺以及玻璃盖板工艺后出现的不良现象进行准确监控，提高了工厂不良监控及时性，如此，便于后续相关人员根据不良缺陷进行分析以进行进一步地改进，从而提高整体产品品质。
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公开(公告)号：CN114725174A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210346333.4
申请日：2022-03-31
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
IPC: H01L27/32 , H01L51/52 , G02F1/133 , G02F1/1685 , G09G3/3208
Abstract: 本发明公开了显示装置、控制方法以及电子设备。该显示装置包括：显示面板，所述显示面板具有显示区和光学传感区；光学传感组件，且所述光学传感组件在所述显示面板上的正投影位于所述光学传感区；以及调光组件，所述调光组件位于所述光学传感组件以及所述显示面板之间，且具有开态和关态。由此，该显示装置可缓解甚至解决光学传感组件位置处的显示面板在黑屏以及光学传感组件工作时，和显示区具有色差，导致光学传感区用户可见的问题。
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公开(公告)号：CN115406904B
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202110581556.4
申请日：2021-05-26
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本申请提供了一种不良检测装置、不良检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，其中，不良检测装置用于检测透明基板，不良检测装置中的第一图像生成装置靠近第一表面设置，通过第一图像生成装置采集透明基板的第一图像；第二图像生成装置靠近第二表面设置，通过第二图像生成装置采集透明基板的第二图像，然后根据第一图像和第二图像，确定不良检测结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117794653A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202280002442.2
申请日：2022-07-28
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 一种吸附装置(10)、吸附系统以及吸附控制方法；该吸附装置(10)包括吸附平台(1)和至少两个控制阀(2)；吸附平台(1)包括至少两个吸附区域(11)，在各个吸附区域(11)设置有多个吸附孔(12)，吸附平台(1)用于放置待吸附产品(40)，吸附孔(12)用于将待吸附产品(40)吸附固定；一个控制阀(2)连通至一个吸附区域(11)的多个吸附孔(12)；该吸附装置(10)尺寸兼容性较好、减少真空损耗。
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公开(公告)号：CN113888533A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202111362477.0
申请日：2021-11-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
Abstract: 本申请公开了一种显示面板的缺陷识别装置、方法、电子设备和可读存储介质。缺陷识别装置包括第一图像采集单元、缺陷检测单元、第二图像采集单元和缺陷识别单元。第一图像采集单元用于采集显示面板的特征图像，缺陷检测单元用于根据特征图像测定显示面板的缺陷坐标，第二图像采集单元用于根据缺陷坐标拍摄缺陷坐标所在位置对应区域的局部彩色图像，缺陷识别单元包括处理器和存储有缺陷识别模型的计算机指令的存储器，处理器执行计算机指令实现利用缺陷识别模型对局部彩色图像识别得到缺陷类型以对缺陷进行分类。本申请通过对显示面板进行检测，从而将由刺伤、异物产生的不良进行精确分类，降低漏检风险，节省人力成本，降低不良造成的损失。
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公开(公告)号：CN109742107A
公开(公告)日：2019-05-10
申请号：CN201910005277.6
申请日：2019-01-03
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种OLED器件及其制备方法和显示面板，所述OLED器件包括形成在衬底基板上的像素界定层，以及包括第一阳极和第二阳极的阳极层，像素界定层的开口区内容置有有机发光功能层，第一阳极至少覆盖像素界定层的开口区的底部，第二阳极至少覆盖开口区的部分侧壁，且第二阳极的材料为反射材料，这样，可以增加反射面积，提高光利用率，避免光能浪费，从而提高显示亮度；这样，无需增加驱动电压即可提升亮度，可以延长蓝光发光材料和OLED器件的使用寿命；而且，第二阳极位于像素界定层和有机发光功能层之间，包裹住有机发光功能层，可以阻隔水汽进入有机发光功能层内，提升OLED器件的WVTR性能。
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公开(公告)号：CN118541983A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202280005138.3
申请日：2022-12-19
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
Inventor： 周丽佳 , 张青 , 贺华强 , 王利 , 程久阳 , 周全国 , 唐浩 , 王志东 , 徐丽蓉 , 兰荣华 , 孙秀茹 , 张俊瑞 , 朱学辉 , 李兴 , 田智力 , 舒江 , 刘一泽 , 蒋国
Abstract: 本公开提供一种对焦控制方法、装置和系统、存储介质，属于控制领域。对焦控制方法包括：控制承载显示面板的载物平台以预设速度沿预设方向移动；控制测距传感器测量测距传感器与检测点之间的第一距离，其中检测点为显示面板的表面上位于预设测距位置上的点；在检测点到达图像采集装置的视野中的预设图像采集位置的情况下，根据第一距离调整图像采集装置与检测点之间的距离，以便图像采集装置与检测点之间的距离为图像采集装置的对焦距离；控制图像采集装置对显示面板的表面进行图像采集。
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公开(公告)号：CN115035059A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210633003.3
申请日：2022-06-06
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司
IPC: G06T7/00 , G06T5/00 , G06T5/50 , G06V10/44 , G06V10/764
Abstract: 本公开提供了一种缺陷检测方法、装置和缺陷检测系统，所述方法包括：对待检器件进行第一图像采集，得到初检图像；基于所述初检图像，对所述待检器件进行第一缺陷检测；若未通过所述第一缺陷检测，对所述待检器件进行第二图像采集，得到精检图像；其中，所述精检图像的分辨率高于所述初检图像的分辨率；基于所述精检图像，对所述待检器件进行第二缺陷检测。
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