继电器测试装置的测试方法以及系统

    公开(公告)号:CN119716702A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411683335.8

    申请日:2024-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种继电器测试装置的测试方法以及系统,根据多个测试任务、继电器测试装置的测试时间以及继电器测试装置的测试负载量确定多个测试任务的测试顺序,保证了多个测试任务的测试顺序的合理性。根据多个测试组合的测试进度、继电器测试装置的当前负载量以及继电器测试装置的型号定义对应的负载等级,根据该负载等级、各个测试任务的完成状态、继电器测试装置的型号以及继电器的型号动态优化所述继电器测试装置的负载,实现了所述继电器测试装置的负载的优化,从而管控所述继电器测试装置对继电器中的多个测试任务的测试效率,进而在进度管控体系中实现了多个测试组合的进度管控,保证了继电器测试装置对继电器的动态测试效果。

Patent Agency Ranking