一种基于AFM的样品原位监测方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115508582A

    公开(公告)日:2022-12-23

    申请号:CN202211011177.2

    申请日:2022-08-23

    Abstract: 本发明提供一种基于AFM的样品原位监测方法,包括:将标记铜网固定在由基底与铁片构成的复合基底之间;将纳米颗粒超声波分散在水中制备成悬液;将悬液滴加在基底表面,使干燥的纳米颗粒附着在基底表面;将纳米颗粒在铁片上进行标记;将含有该纳米颗粒的复合基底放入培养皿,并使用移液枪吸取反应溶液覆盖在基底表面,使其与所述纳米颗粒在密闭环境下进行反应;每隔数天取出复合基底,轻轻吸取基底表面反应溶液,冲洗基底表面并晾干;根据标记的方向,使用AFM观测所述纳米颗粒的形貌。本发明提供的基于AFM的样品原位监测方法,实现了对同一颗粒和同一区域的动力学类原位观测,从而使得监测结果更加准确。

Patent Agency Ranking