-
公开(公告)号：CN117111163B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202310988309.5
申请日：2023-08-07
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本公开是关于一种重力测量装置，包括测量室、电极组件、透镜、第一生光组件和第二生光组件；测量室包括壳体，所述壳体设有腔室；电极组件设于所述壳体，所述电极组件通电后在所述腔室内产生电场；透镜设于所述壳体；第一生光组件用于产生第一激光光束，并使所述第一激光光束穿过所述透镜，在所述腔室内形成使待测物悬浮并捕获所述待测物的光阱区域；第二生光组件用于产生第二激光光束，并使所述第二激光光束传输至所述腔室内，以探测所述待测物的带电量。如此，使重力测量装置空间光路简单、系统体积小、移动便利。
-
公开(公告)号：CN117647470B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410114953.4
申请日：2024-01-29
Applicant: 之江实验室
IPC: G01N15/02 , G01N15/0227 , G01N15/0205
Abstract: 本发明公开了一种基于悬浮光镊和互易定理测量散射场远场的装置及其应用。由颗粒投送装置和悬浮光镊部分分别投送单个纳米颗粒至捕获腔并悬浮捕获；由背景场输入调制部分将具有平面波性质的光束入射至被捕获颗粒以产生散射；通过远场成像部分和固定角度光电信号探测器分别接收和测量固定角度的散射场远场；通过散射场远场分布计算部分获得散射场远场分布。本发明使用悬浮光镊技术，能够避免颗粒受到采样衬底的影响；基于互易定理，调制背景场的入射方向并固定角度测量散射场远场，来代替传统方法改变散射场远场接收角度的过程。本发明使散射场远场的测量更便捷，方向角测量范围为[0,2π]，仰角测量范围为[0,π/2)，适用于识别被捕获的单个纳米颗粒形状。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117111163A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310988309.5
申请日：2023-08-07
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本公开是关于一种重力测量装置，包括测量室、电极组件、透镜、第一生光组件和第二生光组件；测量室包括壳体，所述壳体设有腔室；电极组件设于所述壳体，所述电极组件通电后在所述腔室内产生电场；透镜设于所述壳体；第一生光组件用于产生第一激光光束，并使所述第一激光光束穿过所述透镜，在所述腔室内形成使待测物悬浮并捕获所述待测物的光阱区域；第二生光组件用于产生第二激光光束，并使所述第二激光光束传输至所述腔室内，以探测所述待测物的带电量。如此，使重力测量装置空间光路简单、系统体积小、移动便利。
-
公开(公告)号：CN118936706A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411051946.0
申请日：2024-08-01
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本申请提供一种测量方法和测量系统。该测量方法包括：控制捕获激光光束以将微纳颗粒悬浮在目标状态；目标状态为转动状态和扭动状态在设定时间内多次切换的状态；获得待测力矩作用于微纳颗粒时，微纳颗粒的运动状态；根据微纳颗粒的运动状态确定待测力矩；其中，微纳颗粒的结构为非球形，和/或，微纳颗粒的材料折射率具有各向异性。待测力矩施加于微纳颗粒时，目标状态被打破，新的运动状态与施加的待测力矩强相关。对运动状态进行监测，可确定施加的待测力矩对微纳颗粒运动状态的影响，进而实现对待测力矩的测量。这样，大大降低了机械噪声对力矩测量过程的干扰，且能够实现对量级较小的力矩的测量，提升了力矩测量过程的准确性。
-
公开(公告)号：CN117629899B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410110006.8
申请日：2024-01-26
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本发明公开了一种基于悬浮光镊的纳米颗粒消光截面原位测量方法及装置。本发明使用捕获光路形成光阱捕获纳米颗粒，通过前向散射差分探测实时获得颗粒位置，并闭环控制捕获光束功率对颗粒进行冷却，再使用交流电场驱动颗粒空间位置周期性振动，对振动颗粒前向散射差分信号进行锁相测量，获得位移运动信号。本发明使用探测光路测量消光截面，使用紧聚焦光束作为背景场入射纳米颗粒，并在光束前向使用光电管接收出射背景场立体角范围内的总场，接收的光功率包含背景、小部分散射和消光功率，再对光电管接收的信号使用锁相放大器高信噪比地测量颗粒位移运动频率的信号分量，该分量正比于消光截面，从而得到纳米颗粒原位、精密的消光截面和消光截面谱。
-
公开(公告)号：CN117647470A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202410114953.4
申请日：2024-01-29
Applicant: 之江实验室
IPC: G01N15/02 , G01N15/0227 , G01N15/0205
Abstract: 本发明公开了一种基于悬浮光镊和互易定理测量散射场远场的装置及其应用。由颗粒投送装置和悬浮光镊部分分别投送单个纳米颗粒至捕获腔并悬浮捕获；由背景场输入调制部分将具有平面波性质的光束入射至被捕获颗粒以产生散射；通过远场成像部分和固定角度光电信号探测器分别接收和测量固定角度的散射场远场；通过散射场远场分布计算部分获得散射场远场分布。本发明使用悬浮光镊技术，能够避免颗粒受到采样衬底的影响；基于互易定理，调制背景场的入射方向并固定角度测量散射场远场，来代替传统方法改变散射场远场接收角度的过程。本发明使散射场远场的测量更便捷，方向角测量范围为[0,2π]，仰角测量范围为[0,π/2)，适用于识别被捕获的单个纳米颗粒形状。
-
公开(公告)号：CN117629899A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202410110006.8
申请日：2024-01-26
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本发明公开了一种基于悬浮光镊的纳米颗粒消光截面原位测量方法及装置。本发明使用捕获光路形成光阱捕获纳米颗粒，通过前向散射差分探测实时获得颗粒位置，并闭环控制捕获光束功率对颗粒进行冷却，再使用交流电场驱动颗粒空间位置周期性振动，对振动颗粒前向散射差分信号进行锁相测量，获得位移运动信号。本发明使用探测光路测量消光截面，使用紧聚焦光束作为背景场入射纳米颗粒，并在光束前向使用光电管接收出射背景场立体角范围内的总场，接收的光功率包含背景、小部分散射和消光功率，再对光电管接收的信号使用锁相放大器高信噪比地测量颗粒位移运动频率的信号分量，该分量正比于消光截面，从而得到纳米颗粒原位、精密的消光截面和消光截面谱。
-
-
-
-
-
-
Search Results
7
records
(took 0.045 seconds)
