一种针对甚长基线干涉阵列数据的天体成像方法及装置

    公开(公告)号:CN119146932B

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411611433.0

    申请日:2024-11-12

    Inventor: 崔玉竹 劳保强

    Abstract: 本说明书公开了一种针对甚长基线干涉阵列数据的天体成像方法及装置。所述方法包括:通过校准进程,对初始可见度数据进行校准,得到校准后可见度数据;根据校准后可见度数据,确定针对目标天体的待成像数据,并启动成像进程;通过成像进程,在待成像数据中确出与异常天线相关联的待成像数据,以确保在排除异常天线的干扰下,对非异常天线相关的数据和与异常天线相关联的数据进行分别处理,进而对目标天体进行成像。校准进程和成像进程所有步骤的输入参数均由观测信息计算获取,适配不同阵列的可见度数据处理。本方案实现了不同阵列可见度数据的自动化处理和自动成像,提高了对天体进行成像过程中数据处理的效率和精度,确保了成像质量的可靠性。

    一种黑洞喷流的物理性质的确定方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN117975429B

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410379715.6

    申请日:2024-03-29

    Abstract: 本说明书公开了一种黑洞喷流的物理性质的确定方法、装置及存储介质,本方法先确定喷流图像中每个像素点对应的喷流区域的喷流辐射强度及喷流方向,再将所述喷流图像中与所述黑洞的距离为预设距离的像素点确定为指定像素点。之后,对所述指定像素点对应的局部喷流区域的喷流辐射强度及喷流方向进行拟合,得到局部拟合结果。最后,根据所述局部拟合结果,确定与所述黑洞的距离为预设距离的局部喷流的物理性质。通过确定与所述黑洞的距离为不同预设距离的若干个局部拟合结果,进而通过局部拟合结果确定与所述黑洞的距离为不同预设距离的黑洞喷流的物理性质,提高了确定黑洞喷流的物理性质效率及准确率。

    一种针对甚长基线干涉阵列数据的天体成像方法及装置

    公开(公告)号:CN119146932A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411611433.0

    申请日:2024-11-12

    Inventor: 崔玉竹 劳保强

    Abstract: 本说明书公开了一种针对甚长基线干涉阵列数据的天体成像方法及装置。所述方法包括:通过校准进程,对初始可见度数据进行校准,得到校准后可见度数据;根据校准后可见度数据,确定针对目标天体的待成像数据,并启动成像进程;通过成像进程,在待成像数据中确出与异常天线相关联的待成像数据,以确保在排除异常天线的干扰下,对非异常天线相关的数据和与异常天线相关联的数据进行分别处理,进而对目标天体进行成像。校准进程和成像进程所有步骤的输入参数均由观测信息计算获取,适配不同阵列的可见度数据处理。本方案实现了不同阵列可见度数据的自动化处理和自动成像,提高了对天体进行成像过程中数据处理的效率和精度,确保了成像质量的可靠性。

    一种黑洞喷流的物理性质的确定方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN117975429A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410379715.6

    申请日:2024-03-29

    Abstract: 本说明书公开了一种黑洞喷流的物理性质的确定方法、装置及存储介质,本方法先确定喷流图像中每个像素点对应的喷流区域的喷流辐射强度及喷流方向,再将所述喷流图像中与所述黑洞的距离为预设距离的像素点确定为指定像素点。之后,对所述指定像素点对应的局部喷流区域的喷流辐射强度及喷流方向进行拟合,得到局部拟合结果。最后,根据所述局部拟合结果,确定与所述黑洞的距离为预设距离的局部喷流的物理性质。通过确定与所述黑洞的距离为不同预设距离的若干个局部拟合结果,进而通过局部拟合结果确定与所述黑洞的距离为不同预设距离的黑洞喷流的物理性质,提高了确定黑洞喷流的物理性质效率及准确率。

Patent Agency Ranking