一种静力触探取土器
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104452728A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410778095.X

    申请日:2014-12-15

    CPC classification number: E02D1/04

    Abstract: 本发明涉及地质勘测领域,尤其涉及一种静力触探取土器。它包括顶部和底部均设有螺纹的筒体,所述筒体的筒壁上侧向开有安装孔,所述的安装孔内旋转固定有一可沿筒体纵向翻转的样筒组件,所述的筒体内壁与样筒组件相对位置处固定有一能与样筒组件弹性接触的弹性部件。本装置可在静力触探试验的同时,采取所需要的地层土样,显著提高了野外勘探工作效率,适当减少钻探数量,节约工作时间和成本,提高了静力触探试验的准确性和效率。

    有效应力铲
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101575847B

    公开(公告)日:2011-06-15

    申请号:CN200910062304.X

    申请日:2009-06-02

    Abstract: 有效应力铲,它由夹持杆(1)和应力盒(2)组成,夹持杆(1)与应力盒(2)平行,其特征是所述应力盒(2)内部设有封闭空腔(K1),其封闭空腔(K1)较薄的一面作为感应膜(9),较厚的另一面作为应力盒的支撑背面(10),封闭空腔(K1)内充满应力传递介质,封闭空腔(K1)与压力导管(6)连通;在支撑背面(10)几何中心处装有滤水器(11),滤水器(11)背后的支撑背面(10)设有一小型空腔(K2),小型空腔(K2)和水压导管(7)连通;夹持杆(1)内安装有与压力导管(6)相连的微型压力传感器(4)和与水压导管(7)相连的微型水压传感器(5),在夹持杆(1)上安装有测试在应力铲贯入过程中土体的垂直方向的单位贯入阻力的力传感器。本发明能现场同步快速测定土的贯入阻力和水平有效应力及孔隙水压力。

    一种岩体变形的测量装置

    公开(公告)号:CN110220490B

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN201910533937.8

    申请日:2019-06-19

    Abstract: 本发明实施例提供的岩体变形的测量装置,包括:测量组件,用于测量待测岩体的第一岩块与所述待测岩石的第二岩块之间的位置相对关系,得到测量数据;所述第一岩块位于所述待测岩体的结构面的一侧,所述第二岩块位于所述待测岩体的结构面的另一侧;所述测量组件能够测量三个方向的数据,且三个测量方向互相垂直;固定组件,所述测量组件测量时,所述固定组件的一端固定在所述第一岩块上,另一端固定在所述第二岩块上,用于将所述测量组件固定于所述第一岩块与所述第二岩块之间,且使所述测量组件的三个测量方向中任意两个测量方向形成的平面与所述待测岩体的结构面平行;处理器,用于利用所述测量数据与参考数据,得到所述待测岩体的变形数据。

    一种岩体变形的测量装置

    公开(公告)号:CN110220490A

    公开(公告)日:2019-09-10

    申请号:CN201910533937.8

    申请日:2019-06-19

    Abstract: 本发明实施例提供的岩体变形的测量装置,包括:测量组件,用于测量待测岩体的第一岩块与所述待测岩石的第二岩块之间的位置相对关系,得到测量数据;所述第一岩块位于所述待测岩体的结构面的一侧,所述第二岩块位于所述待测岩体的结构面的另一侧;所述测量组件能够测量三个方向的数据,且三个测量方向互相垂直;固定组件,所述测量组件测量时,所述固定组件的一端固定在所述第一岩块上,另一端固定在所述第二岩块上,用于将所述测量组件固定于所述第一岩块与所述第二岩块之间,且使所述测量组件的三个测量方向中任意两个测量方向形成的平面与所述待测岩体的结构面平行;处理器,用于利用所述测量数据与参考数据,得到所述待测岩体的变形数据。

    一种静力触探取土器
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104452728B

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201410778095.X

    申请日:2014-12-15

    Abstract: 本发明涉及地质勘测领域,尤其涉及一种静力触探取土器。它包括顶部和底部均设有螺纹的筒体,所述筒体的筒壁上侧向开有安装孔,所述的安装孔内旋转固定有一可沿筒体纵向翻转的样筒组件,所述的筒体内壁与样筒组件相对位置处固定有一能与样筒组件弹性接触的弹性部件。本装置可在静力触探试验的同时,采取所需要的地层土样,显著提高了野外勘探工作效率,适当减少钻探数量,节约工作时间和成本,提高了静力触探试验的准确性和效率。

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