一种精密测量复合架及测量装置

    公开(公告)号:CN108375359B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN201810450947.0

    申请日:2018-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种精密测量复合架及测量装置,其包括:架体,其具有中空的内部;所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位,且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜;所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。本发明可以将将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一,在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量,由此提高测量效率。

    一种精密测量复合架及测量装置

    公开(公告)号:CN108375359A

    公开(公告)日:2018-08-07

    申请号:CN201810450947.0

    申请日:2018-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种精密测量复合架及测量装置,其包括:架体,其具有中空的内部;所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位,且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜;所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。本发明可以将将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一,在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量,由此提高测量效率。

    一种精密测量复合架及测量装置

    公开(公告)号:CN208109052U

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:CN201820702913.1

    申请日:2018-05-11

    Abstract: 本实用新型公开了一种精密测量复合架及测量装置,其包括:架体,其具有中空的内部;所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位,且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜;所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。本实用新型可以将将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一,在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量,由此提高测量效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

Patent Agency Ranking