试块及相控阵检测装置校准方法

    公开(公告)号:CN113984906A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111112266.1

    申请日:2021-09-18

    Abstract: 本发明提供了一种试块及相控阵检测装置校准方法,试块用于对轴类工件的相控阵检测装置进行校准;相控阵检测装置包括检测探头;试块与轴类工件的材质相同;试块上设有圆弧,试块的圆弧的半径大于或等于对轴类工件被检测时检测波的最大声程;最大声程为轴类工件的直径的一半。通过根据最大声程确定试块的圆弧的半径,能够使轴类工件在声程范围内完全被检测波覆盖,轴类工件被检测时检测波的声程范围超过100mm时,对相控阵检测装置的校准精度高。

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