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公开(公告)号：CN119743210A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411614316.X
申请日：2024-11-13
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: H04B10/564 , H04B10/90
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹噪声源功率实时调控系统及方法，涉及太赫兹测试测量技术领域。本发明利用泵浦光源为掺铒光纤放大器提供泵浦光产生自激发辐射光信号后，将光信号依次输入至光滤波器、光混频器和太赫兹功分器中，将太赫兹噪声信号功率等分为两路输出，一路经第一太赫兹隔离器输出，另一路输入至太赫兹变频模块中，利用太赫兹变频模块对太赫兹噪声信号进行下变频处理并输入至宽带信号接收主机中，实时测量噪声功率并传输至上位机中，上位机根据噪声功率实时调节掺铒光纤放大器所产生光信号的功率，从而改变输出太赫兹噪声信号的功率，并在显示器中实时显示，实现了对太赫兹噪声源功率的实时调控，提高了太赫兹噪声系数测试的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN111982854B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202010877068.3
申请日：2020-08-27
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/3581
Abstract: 本发明提供一种基于频分复用的物质太赫兹波谱分析装置及分析测试方法，属于物质太赫兹波谱分析技术领域，频分复用微波信号激励太赫兹收发模块发射太赫兹信号，并接收反射太赫兹波信号发送给计算模块；第一传输控制模块对太赫兹信号进行波束整形；第二传输控制模块对透射太赫兹波信号进行分波定向传输；频分复用本振信号激励太赫兹波探测模块探测透射太赫兹波信号发送给计算模块；计算模块对反射太赫兹波信号和透射太赫兹信号进行计算处理，得到待测物质的太赫兹波谱。本发明提升了太赫兹波谱分辨率，提高了太赫兹信号输出功率，扩大了输出功率范围；实现了透射太赫兹波谱与反射太赫兹波谱的同步采集；实现了全电子学的高分辨率太赫兹波谱分析。
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公开(公告)号：CN115112959A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210809250.4
申请日：2022-07-11
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及毫米波与太赫兹直检式辐射计技术领域，提供了直检式高灵敏度毫米波与太赫兹辐射计及其工作方法，包括斩波开关、以及依次连接的天线、第一低噪声放大器和第二低噪声放大器；所述斩波开关连接至所述第一低噪声放大器和第二低噪声放大器的连接线上，用于对第一低噪声放大器放大后的毫米波与太赫兹信号进行斩波。不仅对辐射计整体噪声恶化较小，同时又能有效的抑制斩波调制电路之后器件带来的噪声影响。
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公开(公告)号：CN112018480B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010872034.5
申请日：2020-08-26
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本公开涉及双层四路功率合成三倍频器及固态信号发生器，包括传输波导，所述传输波导的内腔中设置有用于接收微波信号源的一级三倍频器，一级三倍频器的输出端信号能够通过功分器将功率均分至四个二级三倍频器，四个二级三倍频器的输出端信号能够通过合成器合成至三级三倍频器，三级三倍频器输出倍频后的太赫兹信号。本公开能够解决现有太赫兹固态倍频链路中，各部件之间需要法兰连接，造成装置体积过大、性能恶化的问题，便于实现外扩频装置的小型化。
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公开(公告)号：CN115078300B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202210615378.7
申请日：2022-06-01
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种高分辨率太赫兹特征谱线精密测试装置及测试方法，测试装置包括微波激励单元、开关矩阵、太赫兹信号发生与合路单元、太赫兹信号探测与合路单元、样品室、太赫兹透镜一、太赫兹透镜二、数据采集单元、集成型适配器、集线器和工控机。本发明所公开的测试装置及测试方法可以实现非金属物质Hz量级太赫兹特征谱线的检测识别，同时实现吸收系数、介点特性等参数的估计，进而实现物质成分的定性和定量分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117169160A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311134132.9
申请日：2023-09-04
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/3581 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种非规则构件太赫兹无损检测装置及测试分析方法，检测装置包括主控计算机、微波信号发生与数据采集设备、收发装置、六轴机械手、探头转换装置、激励信号发生与太赫兹信号采集设备以及收发探头；本发明根据待测样品厚度选择收发探头或收发装置进行成像；并且采用生成式对抗网络进一步改善成像效果，同时实现内部缺陷类别的检测。本发明的检测装置及测试分析方法采用光电融合的技术手段，可以满足不同厚度、不同类型待测样品的测试需求，并且能够提高反射太赫兹信号接收动态范围，解决非规则构建三维层析成像与缺陷检测难题，有效选取待测样品的作用区域，改善太赫兹信号信噪比，基于飞行时间快速实现非规则构件三维结构无损测试。
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公开(公告)号：CN111982856B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202010877062.6
申请日：2020-08-27
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明提供一种基于太赫兹波的物质无标志检测识别方法，属于物质检测技术领域，获取参考信号以及多组样品透射信号，对参考信号以及多组样品透射信号进行离散采样，对参考信号进行处理，得到参考信号的太赫兹频谱；对透射信号进行处理，得到透射信号的太赫兹频谱；将参考信号的太赫兹频谱与透射信号的太赫兹频谱进行对比，得到样品太赫兹吸收谱，与太赫兹指纹谱数据库比对，实现待测样品识别。本发明降低了高斯噪声对信号的干扰，实现了样品太赫兹特征谱的检测识别，相对传统算法，特征吸收峰提取方便、检测概率高、信噪比高，提取样品太赫兹特征谱，通过太赫兹指纹谱数据库对比，实现样品检测识别，样品检测概率均优于90％，高于传统算法检测概率。
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公开(公告)号：CN115343251A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202210891741.8
申请日：2022-07-27
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种大动态散射式太赫兹物质成像与成分分析装置及方法，装置包括依次进行信号连接的双端口扫频激励信号发生与中频信号探测模块、2路低噪声放大与混频模块、低噪声放大模块、IQ混频放大模块、数据采集模块和工控机，双端口扫频激励信号发生与中频信号探测模块通过开关矩阵分别连接太赫兹信号倍频发射模块和太赫兹信号混频探测模块，太赫兹信号倍频发射模块和太赫兹信号混频探测模块之间设置信号传输调节装置、纳米探针、压电体、2端口激励源和实现待测样品移动的三维扫描架。本发明所的装置及方法可以突破衍射极限，实现纳米级成像；具备近场太赫兹散射谱分析能力，实现物质成分分析，并能实现全频段优于100dB的大动态测试。
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公开(公告)号：CN113572499A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110943128.1
申请日：2021-08-17
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Inventor： 贾定宏 , 王沫 , 邓建钦 , 朱伟峰 , 姜万顺 , 年夫顺 , 朱翔 , 刘跃 , 霍建东 , 曲志明 , 程笑林 , 刘朝阳 , 张胜洲 , 陈玉龙 , 梁晓林 , 张超群
Abstract: 本发明涉及太赫兹信号网络参数测试扩频装置，包括分别与信号分离单元连接的信号发生单元和信号接收单元，信号分离单元设有测试端口，信号发生单元设有射频输入端口，信号接收单元包括参考信号接收单元和测试信号接收单元，参考信号接收单元和测试信号接收单元通过功率分离模块连接在一起，功率分离模块设有本振信号输入端口，参考信号接收单元设有参考中频输出端口，测试信号接收单元设有测试中频输出端口。信号发生和接收单元均采用了72次固态级联倍频/混频方法，微波矢量网络分析仪主机提供10.41GHz‑15.28GHz的射频及本振输入信号，即可实现0.75THz～1.1THz全频段网络参数测试，兼容性高。
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公开(公告)号：CN116908136A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310947876.6
申请日：2023-07-28
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/3586 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种多形态非金属物质分析方法及系统，属于太赫兹物质测量仪器技术领域。本发明通过微波激励信号发生单元输出本振信号和射频信号；太赫兹信号发生阵列对本振信号和射频信号进行处理，生成太赫兹信号；太赫兹信号经光学阵列将反射信号和透射信号聚焦至太赫兹信号探测阵列；计算机通过多通道数据采集单元获取待测样品的透射信号和反射信号并进行分析。能够实现物质三维结构与组成成分分析的有机融合，满足多形态非金属物质性能评估的测试需求；解决了现有技术中存在“无法满足多形态非金属物质性能评估的测试需求”的问题。
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