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公开(公告)号：CN117309144A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311279397.8
申请日：2023-10-07
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种宽波段光谱快速扫描控制系统及方法，系统包括参数解析模块、扫描执行模块、位置判断模块、电机控制模块、探测器时序产生模块、数据处理模块、波形拼接模块和数据传输模块；本发明采用分段自动扫描的方法，依次将光栅转动到N个固定的角度上，采用阵列探测器分段采集光谱，从而实现覆盖全波段的精细光谱扫描，提高扫描速度以及采样分辨率；本发明中的分段显示与光谱拼接方法以探测器有效像元的中心位置为基准，计算得到每一段每个像元对应的波长值，从而实现覆盖全波段的光谱无缝拼接与显示。本发明有效结合了转动式光栅与固定式阵列探测器的特点，能够实现全波长范围内的快速扫描，并且能够提高采样分辨率。
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公开(公告)号：CN115201123A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210860668.8
申请日：2022-07-21
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01N21/27
Abstract: 本发明公开了一种用于分光测色仪的双光路实时校准系统及方法，涉及测色仪技术领域。包括光源单元和光谱仪单元，采用LED复合光源提升光源的稳定性和使用寿命，LED复合光源采用圆形布局进行集成，可有效提升积分球漫射照明效率。本发明还利用双光路结构提升测试结果的重复性，在双光路结构中通过光开关，将监测光信号和样品反射信号分时进入光谱仪，实现了双光路单探测器的结构。还利用汞氩灯进行波长校准，利用校准拨片进行能量校准，实现了分光测色仪波长和能量的实时校准。
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公开(公告)号：CN113324652B
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202110592083.8
申请日：2021-05-28
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种布里渊光谱仪的精细扫频信号产生装置与方法。该装置包括主控模块，可调谐激光器模块，用于产生特定波长的光信号；分路模块，连接可调谐激光器模块，用于将可调谐激光器模块输出的输出光等分为两路光；第一光波移频模块，连接分路模块，用于对分路模块输出的第一路光信号进行载波抑制单边带调制，产生第一精细调谐移频光；第二光波移频模块，连接分路模块，用于对分路模块输出的第二路光信号进行载波抑制单边带调制，产生第二精细调谐移频光；耦合模块，连接第一光波移频模块和第二光波移频模块，用于将第一精细调谐移频光和第二精细调谐移频光合为一束精细扫频信号光，作为布里渊光谱仪工作时的泵浦信号光。
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公开(公告)号：CN113324652A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110592083.8
申请日：2021-05-28
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种布里渊光谱仪的精细扫频信号产生装置与方法。该装置包括主控模块，可调谐激光器模块，用于产生特定波长的光信号；分路模块，连接可调谐激光器模块，用于将可调谐激光器模块输出的输出光等分为两路光；第一光波移频模块，连接分路模块，用于对分路模块输出的第一路光信号进行载波抑制单边带调制，产生第一精细调谐移频光；第二光波移频模块，连接分路模块，用于对分路模块输出的第二路光信号进行载波抑制单边带调制，产生第二精细调谐移频光；耦合模块，连接第一光波移频模块和第二光波移频模块，用于将第一精细调谐移频光和第二精细调谐移频光合为一束精细扫频信号光，作为布里渊光谱仪工作时的泵浦信号光。
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公开(公告)号：CN118033412A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410034507.2
申请日：2024-01-10
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种适用于多种电机的多参数测试系统及方法，属于测试技术领域，本发明系统包括固定底板、电机、弹性牵引模块、滑动定位装置、运动约束装置、高精度位移测量装置、结构转接工装、电机轴、参数计算模块以及可编程多电机选择驱动系统组成；本发明方法包括如下步骤：电机重复定位精度测试；电机步进精度测试；电机步距长度测试；电机转动步进角度测试；电机平均转速测试。本发明兼容性好，推杆电机、步进电机、伺服电机等电机都可以测量其运行位置；本发明可利用该套系统检测电机的电机重复定位精度、步进精度、步距长度、转动步进角度、转速等多种参数；本发明体积小、重量轻、成本低、结构简单、测试方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116465501A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202310242967.X
申请日：2023-03-14
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01J5/53
Abstract: 本公开提供了一种基于定标残差的红外光谱辐射计NESR测量方法及系统，涉及红外光谱技术领域，包括获取低温黑体的均值干涉数据以及获取高温黑体的均值干涉数据；分别对获取的低温黑体均值干涉数据、高温黑体的均值干涉数据进行光谱反演，得到对应的低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱；基于低温黑体复数光谱、高温黑体复数光谱，采用复数辐射定标方法，计算复数辐射定标系数；利用复数辐射定标系数，进行复数辐射定标，获取定标光谱辐射亮度，取定标光谱辐射亮度的虚部残值，作为仪器的NESR值。能够更好的消除不同温度目标场景间以及仪器自身辐射等引入的相位偏差提升傅里叶变换红外光谱辐射计的测试精度。
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公开(公告)号：CN116232454A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310272468.5
申请日：2023-03-20
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明公开了一种光纤调制格式信号相位参数测量装置及方法，该装置包括泵浦模块、消偏振模块、待测信号输入模块、波长分光模块、探测模块、相位参数提取模块和控制与数据处理模块，通过泵浦模块产生的可调谐的双泵浦信号，基于光纤受激布里渊效应，利用双受激布里渊选频放大和拍频相干获取待测信号的相邻两个波长的相位差，通过改变双泵浦信号的波长，获取系列不同波长位置处的相邻两个波长的相位差，通过相位差累加，并利用双泵浦信号作为相位基准参考信号，获取光纤调制格式信号的相对相位参数和绝对相位参数。本发明采用双受激布里渊选频放大和拍频相干的相位参数测量技术，实现了pm量级波长分辨率的波长相关相位参数的精确测量。
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公开(公告)号：CN116067625A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202310087356.2
申请日：2023-01-29
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种光谱仪内置光源长时间波长稳定性测试方法及系统，涉及光源测试技术领域，包括开启汞灯光源以及光谱分析仪，选定参考汞灯基准波长，调整带通光纤滤波器；观测监控的光谱仪，确定是否能够观测到参考基准，若不能，则继续调整带通光纤滤波器，使参考基准波长出现在指定波长观测范围内，若能够观测到参考基准波长，则开启内置光源和波长计进行测量；长时间采集待测峰值波长值和基准波长值，设置筛选标准值，计算长时间测量数据方差，确认测量数据方差是否小于筛选标准值，若是，则判定稳定性合格。本发明使用峰值波长求方差评判稳定性，可以同时进行多峰值波长的稳定性测量，适用于不同类型的内置光源波长稳定性测量。
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公开(公告)号：CN116358702A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310407318.0
申请日：2023-04-17
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种光谱仪功率校准装置及方法，该装置包括激光器、可调光衰减器、分束器、光开关、驱动电路、功率调节模块、功率监测模块和校准系数计算模块，激光器在驱动电路的驱动下产生单色光，单色光通过可调光衰减器后进入分束器，分为参考光和校准光两路光束，参考光进入功率监测模块，获取参考光的参考功率值；校准光经光开关的第二通道进入光谱仪的分光模块，再通过探测器、数据采集模块和FPGA获取功率值，校准系数计算模块根据参考光的参考功率值和校准光的功率值计算获得功率校准系数。本发明能够实现对光谱仪的定期维护和自动化功率校准，保证光谱仪长期使用中的功率准确度。
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公开(公告)号：CN116295840A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310272271.1
申请日：2023-03-20
Applicant: 中电科思仪科技股份有限公司
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种干涉图畸变检测方法及系统，该方法通过对目标干涉图进行干涉图主峰值检测；基于检测的干涉图主峰值，判别干涉图是否为包含有效目标信息的有效干涉图；若干涉图为包含有效目标信息的有效干涉图，采用局部最大值法，定位干涉图的主峰及各级次峰；基于定位的干涉图主峰及各级次峰，识别与判断目标干涉图是否存在畸变，实现了傅立叶变换红外光谱辐射计的畸变干涉图的简单、高效、高精度识别与检测。
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