一种阵列侧向探测仪器的设置方法、装置及计算设备

    公开(公告)号:CN115453639B

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202211405270.1

    申请日:2022-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种阵列侧向探测仪器的设置方法及装置,根据本发明提供的技术方案,在N对屏蔽回流电极中确定屏蔽电极和回流电极,将回流电极接地,控制M对监督测量电极的电压,获得多种测量模式,并得到多种测量模式的包含电极长度变量的测量响应函数;根据多种测量模式的测量响应函数、预设测量深度下的第一测量响应值以及预设测量分辨率下的第二测量响应值,构建目标优化函数,求得目标屏蔽回流电极的电极长度。本发明可以通过设置多对屏蔽回流电极,并基于对探测仪器分辨率和探测深度的要求,反向确定符合要求的电极长度,使探测仪器同时满足外观构造和工作性能的要求。

    一种阵列侧向探测仪器的设置方法、装置及计算设备

    公开(公告)号:CN115453639A

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202211405270.1

    申请日:2022-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种阵列侧向探测仪器的设置方法及装置,根据本发明提供的技术方案,在N对屏蔽回流电极中确定屏蔽电极和回流电极,将回流电极接地,控制M对监督测量电极的电压,获得多种测量模式,并得到多种测量模式的包含电极长度变量的测量响应函数;根据多种测量模式的测量响应函数、预设测量深度下的第一测量响应值以及预设测量分辨率下的第二测量响应值,构建目标优化函数,求得目标屏蔽回流电极的电极长度。本发明可以通过设置多对屏蔽回流电极,并基于对探测仪器分辨率和探测深度的要求,反向确定符合要求的电极长度,使探测仪器同时满足外观构造和工作性能的要求。

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