一种地下封闭空间设备基础精准放样方法

    公开(公告)号:CN115683016A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211136177.5

    申请日:2022-09-17

    Abstract: 本发明公开了一种地下封闭空间设备基础精准放样方法,其包括如下步骤:S1、选取基准点位置;S2、计算基准点坐标:在基准点的四周选择已施工完成的至少四个结构物作为已知点,采用后交会测量法,拟合计算得到基准点的坐标;S3、验证基准点坐标;S4、建立地下坐标控制网以基准点为控制点,在待放样区域四周的墙壁或柱面,制作四个控制点,并记录四个控制点的坐标,以此建立新的坐标控制网;S5、竖井高程传递测量;S6、建立地下高程控制网。本发明解决了原控制网被破坏、遮挡,精度低、通视效果差以及常规从地面导入地下新建高程控制网,因不通视,存在换站转点次数多、精度低、工作量大的问题。

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