公开(公告)号：CN115526836A

公开(公告)日：2022-12-27

申请号：CN202211054573.3

申请日：2022-08-30

Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)

Inventor： 罗文兵 ,  高炽扬 ,  李亚伟 ,  徐海波 ,  刘风华 ,  王亮 ,  杨超 ,  董金奎 ,  汝金星

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明涉及一种图像传感器坏点检测方法、系统、存储介质和电子设备，包括：利用待检测图像传感器对单色图像进行拍摄，得到待测图像；判断待测图像的图像形式是否为单通道图像形式，若是，判断待测图像中的每个像素点的灰度值是否处于坏点检测范围，并将第二判断结果为是的像素点确定单通道图像形式的待测图像的坏点；基于待测图像与待检测图像传感器的映射关系，得到待测图像的每个坏点的坐标在待检测图像传感器中对应的坏点位置。本发明能够根据用户的实际需求，以自定义坏点阈值的方式，实现对图像坏点的检测，并通过拍摄的图像与图像传感器之间的映射关系，精确地获取图像传感器中的坏点，提高了坏点检测的精度与效率。