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公开(公告)号：CN104422583B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201310382045.5
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法。光学系统包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间；分划板，分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元件之间；第二物镜，调焦元件与第二物镜之间的距离可调节；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。待检测设备（例如：综合验光仪）放置在第一物镜与第二物镜之间，通过调节调焦元件与第二物镜之间的距离，可以使分划板上基准图案清晰的呈现在成像元件上，根据调节调焦元件与第二物镜之间的距离计算得出待检测设备的性能指标，从而对待检测设备进行量化的判断。
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公开(公告)号：CN105571836A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201610060476.3
申请日：2016-01-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，属于测试计量技术及仪器领域。包括：凸透镜校验镜片、凹透镜校验镜片和镜座。所述的凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片位于镜筒的台阶状圆形通孔内，在凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片的前表面放上垫圈，再用带有外螺纹的压圈固定。本发明通过设计具有不同后顶焦度的凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片，以及配套的镜座，不仅可以在空气中实现接触镜测量仪器的后顶焦度示值误差检验，而且还可以在溶液中实现测量仪器的后顶焦度示值误差检验。且具有结构简单、操作方便、适用范围广的优点。
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公开(公告)号：CN104422583A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201310382045.5
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法。光学系统包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间；分划板，分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元件之间；第二物镜，调焦元件与第二物镜之间的距离可调节；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。待检测设备（例如：综合验光仪）放置在第一物镜与第二物镜之间，通过调节调焦元件与第二物镜之间的距离，可以使分划板上基准图案清晰的呈现在成像元件上，根据调节调焦元件与第二物镜之间的距离计算得出待检测设备的性能指标，从而对待检测设备进行量化的判断。
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公开(公告)号：CN100589751C
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200710176603.7
申请日：2007-10-31
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: A61B3/103
CPC classification number: A61B3/103 , A61B3/0025 , B29D11/02 , G01M11/0228
Abstract: 一种检验客观式验光仪用柱镜标准器，其特征在于，包括：柱镜模拟眼，该柱镜模拟眼为方形柱体，该柱镜模拟眼为两段结构，其中第一段的一端面为平面，第一段的另一端的端面为凸柱面；第二段的一端为凹柱面，第二段的另一端为凸球形面，所述的第一段和第二段的凸柱面、凹柱面胶合在一起；一轴位控制器，该轴位控制器为矩形，该轴位控制器的两相对面上相隔一定距离开有方形通孔；所述的柱镜模拟眼位于轴位控制器上的通孔内。
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公开(公告)号：CN101422356A
公开(公告)日：2009-05-06
申请号：CN200710176603.7
申请日：2007-10-31
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: A61B3/103
CPC classification number: A61B3/103 , A61B3/0025 , B29D11/02 , G01M11/0228
Abstract: 一种检验客观式验光仪用柱镜标准器，其特征在于，包括：柱镜模拟眼，该柱镜模拟眼为方形柱体，该柱镜模拟眼为两段结构，其中第一段的一端面为平面，第一段的另一端的端面为凸柱面；第二段的一端为凹柱面，第二段的另一端为凸球形面，所述的第一段和第二段的凸柱面、凹柱面胶合在一起；一轴位控制器，该轴位控制器为矩形，该轴位控制器的两相对面上相隔一定距离开有方形通孔；所述的柱镜模拟眼位于轴位控制器上的通孔内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105571836B
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201610060476.3
申请日：2016-01-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，属于测试计量技术及仪器领域。包括：凸透镜校验镜片、凹透镜校验镜片和镜座。所述的凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片位于镜筒的台阶状圆形通孔内，在凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片的前表面放上垫圈，再用带有外螺纹的压圈固定。本发明通过设计具有不同后顶焦度的凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片，以及配套的镜座，不仅可以在空气中实现接触镜测量仪器的后顶焦度示值误差检验，而且还可以在溶液中实现测量仪器的后顶焦度示值误差检验。且具有结构简单、操作方便、适用范围广的优点。
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公开(公告)号：CN203443765U
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201320529908.2
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。发光装置包括：光源；分划板；发光筒，光源和分划板分别设置在发光筒的两端；安装座，发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。由于本实用新型中的光源和分划板集成在发光装置的发光筒中，因而发光装置既能在光学系统中起到照亮光路的作用，还是光学系统中的目标参考物，从而简化了光学系统的结构，提高了光学系统的工作可靠性。由于设置有分划板的发光筒可枢转地设置在安装座上，因而提高了发光装置的运动自由度，使发光装置可以满足不同光学系统的使用要求，从而扩大了发光装置的使用范围、提高了发光装置的使用可靠性。
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公开(公告)号：CN203443766U
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201320530271.9
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置。光学系统包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间；分划板，分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元件之间；第二物镜，调焦元件与第二物镜之间的距离可调节；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。待检测设备（例如：综合验光仪）放置在第一物镜与第二物镜之间，通过调节调焦元件与第二物镜之间的距离，可以使分划板上基准图案清晰的呈现在成像元件上，根据调节调焦元件与第二物镜之间的距离计算得出待检测设备的性能指标，从而对待检测设备进行量化的判断。
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公开(公告)号：CN203443767U
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201320530292.0
申请日：2013-08-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统。辅助定位装置包括：底座；移动台，移动台与底座可移动地连接；连接部，连接部用于固定待安装物，连接部设置在移动台上。使用本实用新型中的辅助定位装置时，待安装物（例如用于检测综合验光仪的光学检测装置）通过连接部固定在移动台上，当移动台在底座上移动时，会带动光学检测装置随移动台运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。
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公开(公告)号：CN201096612Y
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200720173889.9
申请日：2007-10-31
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 一种检验焦度计用柱镜标准镜片，其特征在于，包括：一镜片，该镜片的一面为凸球面，该镜片的另一面为凹柱面；一镜座，该镜座为一螺母状的正八角形结构，该镜座的中空处为台阶状，其较大孔径端有螺纹，其较大孔径端的直径与镜片的直径相同；其中该镜片位于镜座内，在镜片上有一垫圈，在垫圈上用一带有螺纹的压圈固定。
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