-
公开(公告)号：CN119147580A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411323925.X
申请日：2024-09-23
Applicant: 中国计量科学研究院 , 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
Abstract: 本发明公开了一种光学一体化设置的薄膜材料相变温度测量装置及方法，属于薄膜热性能检测技术领域，包括光学组件固定架和真空腔，真空腔通过法兰连接在光学组件固定架的下方；光学组件固定架上设置有光电探测器、第一分光组件、第二分光组件、第一聚焦镜、CCD传感器、反光镜、第二聚焦镜和激光器；第二分光组件设置在激光器的发射端，第一聚焦镜设置在第二分光组件的下方，第一分光组件和光电探测器依次设置在第二分光组件的上方，第二聚焦镜和反光镜依次设置在第一分光组件的右侧，本发明所提供的装置及方法，简化了相变薄膜材料相变温度测量的过程，同时提高了相变薄膜材料相变温度测量的准确性及多样性。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119147110A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411323914.1
申请日：2024-09-23
Applicant: 中国计量科学研究院 , 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
Abstract: 本发明公开了一种薄膜材料相变温度测量的热电偶测温位移装置，属于半导体薄膜热性能检测领域，包括腔体、测温装置和位移装置；位移装置设置在腔体的下方，测温装置设置在腔体的内部底侧，腔室的内部还设置有样品台，位移装置靠近腔体的顶端安装有加热冷却装置，测温装置由热电偶、热电偶固定套管、热电偶夹具和热电偶垂直位移平台构成，热电偶的一端安装在热电偶固定套管上，热电偶固定套管远离热电偶的一侧通过热电偶夹具固定在热电偶垂直位移平台上；本发明通过使用测温装置解决了现有的测温方式误差较大的问题。
-
公开(公告)号：CN119165035A
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202411311671.X
申请日：2024-09-19
Applicant: 中国计量科学研究院 , 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
IPC: G01N27/447
Abstract: 本发明公开了一种基于库尔特原理的Zeta电位检测装置和方法，装置包括样品池、微流芯片和电压回路；其中，所述样品池的一端通入第一预设浓度的待测样品，所述样品池的另一端通入第二预设浓度的待测样品，所述微流芯片设置于所述样品池内，且所述微流芯片上开设有供所述待测样品中粒子通过的微流通道；所述电压回路与所述样品池中的待测样品形成导电回路，以对所述样品池施加直流电压。在检测过程中，在样品池两侧接电极，施加直流电压，粒子发生电泳；当粒子通过样品池中心的微流通道时，产生微电流信号波动，通过该微电流信号波动得到电泳迁移率；解决了现有Zeta电位测量中粒子会受到布朗运动影响的缺点，提高了Zeta电位测量的精度。
-
公开(公告)号：CN119147579A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411323919.4
申请日：2024-09-23
Applicant: 中国计量科学研究院 , 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
Abstract: 本发明公开了一种样品稳定装卸的薄膜材料相变温度测量装置，属于半导体薄膜热性能测量领域，包括快关门、真空腔体、匣板阀、进样舱室、磁力进样杆，快关门设置在真空腔体的一侧，进样舱室设置在真空腔体远离快关门的一侧，匣板阀安装在进样舱室靠近真空腔体的一侧，磁力进样杆安装在进样舱室远离匣板阀的一侧，真空腔体的底部设置有电控位移平台，真空腔体的内部设置有接收架，电控位移平台的外部套设有蒸发源，蒸发源位于接收架的正下方；本发明通过装置中磁力进样杆、接收架与蒸发源的相互配合；解决了进样过程中样品不固定的问题，保证了光路稳定；同时也保证了样品台的稳定和腔室的密闭性；并且样品与热电偶可稳定压力接触。
-
公开(公告)号：CN116399913A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310397262.5
申请日：2023-04-12
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种针对导电纤维材料电阻率测试的探针模块，上端压盖的压盖弹簧孔为四个且均布设置在压盖主体的底面上，压力弹簧的一端抵在压盖弹簧孔的顶部，另一端与导电片接触；探针架模块的单探针架的外壁为与内螺纹孔的内螺纹结构相匹配且螺接固定的外螺纹结构，单探针架内设有弹簧探针，压力传感器和导电片相接触且均套设在弹簧探针的上部，弹簧探针的顶端与压力弹簧接触，底端与导电纤维材料样品接触。采用内螺纹孔与单探针架的螺接配合，弹簧探针的压力可以进行较大范围调控且实时反馈。探针模块的结构简单，使用时操作更加方便，流程更加简洁。同时在测试方法上增加欧姆接触的测试，是决定能不能对半导体材料进行测试的决定条件。
-
公开(公告)号：CN219915455U
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202320826105.7
申请日：2023-04-12
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型涉及一种针对导电纤维材料电阻率测试的探针模块，上端压盖的压盖弹簧孔为四个且均布设置在压盖主体的底面上，压力弹簧的一端抵在压盖弹簧孔的顶部，另一端与导电片接触；探针架模块的单探针架的外壁为与内螺纹孔的内螺纹结构相匹配且螺接固定的外螺纹结构，单探针架内设有弹簧探针，压力传感器和导电片相接触且均套设在弹簧探针的上部，弹簧探针的顶端与压力弹簧接触，底端与导电纤维材料样品接触。采用内螺纹孔与单探针架的螺接配合，弹簧探针的压力可以进行较大范围调控且实时反馈。探针模块的结构简单，使用时操作更加方便，流程更加简洁。同时在测试方法上增加欧姆接触的测试，是决定能不能对半导体材料进行测试的决定条件。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.019 seconds)
