一种GTEM室净馈入功率测量方法、装置及计算机设备

    公开(公告)号:CN113777396B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202111003054.X

    申请日:2021-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种GTEM室净馈入功率测量方法、装置及计算机设备,应用于净馈入功率测量系统,该方法包括:获取单定向耦合器的第三端口处的第一入射电压和第一出射电压;基于第一出射电压计算得到等效信号源的输出电压;基于第一入射电压和第一出射电压计算得到净馈入功率测量系统的第一功率;获取单定向耦合器的第二端口处的第二入射电压和第二出射电压;基于第二入射电压、第二出射电压、等效信号源的输出电压和第一功率计算得到净馈入功率。通过实施本发明,使用已知参数计算得出待测净馈入功率,解决了单定向耦合器反向功率不可测量的问题,提高了净馈入功率的测量精度。

    一种GTEM室净馈入功率测量方法、装置及计算机设备

    公开(公告)号:CN113777396A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202111003054.X

    申请日:2021-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种GTEM室净馈入功率测量方法、装置及计算机设备,应用于净馈入功率测量系统,该方法包括:获取单定向耦合器的第三端口处的第一入射电压和第一出射电压;基于第一出射电压计算得到等效信号源的输出电压;基于第一入射电压和第一出射电压计算得到净馈入功率测量系统的第一功率;获取单定向耦合器的第二端口处的第二入射电压和第二出射电压;基于第二入射电压、第二出射电压、等效信号源的输出电压和第一功率计算得到净馈入功率。通过实施本发明,使用已知参数计算得出待测净馈入功率,解决了单定向耦合器反向功率不可测量的问题,提高了净馈入功率的测量精度。

    一种天线雷达散射截面测量方法、装置及计算机设备

    公开(公告)号:CN109975778A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201910229631.3

    申请日:2019-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种天线雷达散射截面测量方法及装置,应用于待测天线与辅助天线组成的测量系统中,该方法包括:获取在N个不同位置下测量系统测得的总群时延GDXY、测量系统自身群时延GD0及距离群时延GDd;根据总群时延GDXY、自身群时延GD0及距离群时延GDd生成测量曲线P1xy;根据由待测天线与辅助天线的散射特性及距离确定的拟合参数构建拟合曲线P2xy;根据测量曲线P1xy和拟合曲线P2xy构建目标函数;获取目标函数取最小值时的散射特性最优解;根据散射特性最优解计算待测天线的散射截面。

Patent Agency Ranking