一种电波暗室场地性能测试方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119716711A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202510220564.4

    申请日:2025-02-27

    Abstract: 本发明公开了一种电波暗室场地性能测试方法,涉及电波暗室场地性能测试领域,其包括以下步骤:获取电波暗室场地内收发天线之间的频率响应数据;将收发天线之间的频率响应数据通过离散傅里叶逆变换转换到时域;获取时域下的收发天线间直线传播信号的响应;获取时域下的来自电波暗室的反射波信号的响应;通过离散傅里叶变换将时域下的收发天线间直线传播信号的响应转换到频域,得到第一频域数据;通过离散傅里叶变换将时域下的来自电波暗室的反射波信号的响应转换到频域,得到第二频域数据;根据第一频域数据和第二频域数据测试电波暗室场地性能。本方法降低了进行暗室场地验证的硬件投入成本。

    一种针对天线群时延测量的阻抗失配修正方法及装置

    公开(公告)号:CN113708853A

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN202110908367.3

    申请日:2021-08-09

    Abstract: 本发明公开了一种针对天线群时延测量的阻抗失配修正方法及装置,应用于天线测量系统,包括:分别获取天线测量系统中各天线测量子系统的相位函数;基于相位函数分别计算得到各天线测量子系统的群时延;基于群时延生成整个天线测量系统的群时延测量方程组;获取各天线测量子系统中第一相位变化值、第二相位变化值和系统自身的第三相位变化值;基于第一、二、三相位变化值得到第一群时延测量误差、第二群时延测量误差和第三群时延测量误差;基于所述天线测量系统的群时延测量方程组和第一、二、三群时延测量误差,得到总失配修正因子;基于总失配修正因子对待测天线的群时延测量结果进行阻抗失配修正。

    基于脉冲电场探头的静电放电辐射电场测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119471074A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411591274.2

    申请日:2024-11-08

    Abstract: 本发明涉及静电放电辐射电场测量技术领域,公开了一种基于脉冲电场探头的静电放电辐射电场测量装置及方法,该装置包括:金属板;电流靶,镶嵌于金属板的中部,用于和待测静电放电发生器的放电电极进行接触放电;脉冲电场探头,用于采集和放电电极位于金属板的同一侧的预设位置处的空间电场的电信号,将采集的电信号转换成光信号,并通过信号光纤将光信号传输至接收模块;接收模块,用于将信号光纤传输的光信号转换成电信号后输入至示波器;示波器,用于根据接收模块输入的电信号生成并输出静电放电辐射电场的波形,本发明提高了静电放电辐射电场测量的准确性,解决了ESD辐射电场的测量难题。

    一种针对天线群时延测量的阻抗失配修正方法及装置

    公开(公告)号:CN113708853B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202110908367.3

    申请日:2021-08-09

    Abstract: 本发明公开了一种针对天线群时延测量的阻抗失配修正方法及装置,应用于天线测量系统,包括:分别获取天线测量系统中各天线测量子系统的相位函数;基于相位函数分别计算得到各天线测量子系统的群时延;基于群时延生成整个天线测量系统的群时延测量方程组;获取各天线测量子系统中第一相位变化值、第二相位变化值和系统自身的第三相位变化值;基于第一、二、三相位变化值得到第一群时延测量误差、第二群时延测量误差和第三群时延测量误差;基于所述天线测量系统的群时延测量方程组和第一、二、三群时延测量误差,得到总失配修正因子;基于总失配修正因子对待测天线的群时延测量结果进行阻抗失配修正。

    一种超宽带的传导发射直接耦合探头的校准方法

    公开(公告)号:CN118962558B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202411325877.8

    申请日:2024-09-23

    Abstract: 本发明公开了一种超宽带的传导发射直接耦合探头的校准方法,其包括以下步骤:对矢量网络分析仪进行双端口校准;在矢量网络分析仪的两个端口之间连接直通校准夹具,测量得到直通校准夹具的S矩阵;仅在矢量网络分析仪的第一端口连接开路校准夹具,测量得到开路校准夹具的输入反射系数;测量得到开路校准夹具和被测耦合探头形成的整体S矩阵;基于直通校准夹具的S矩阵、开路校准夹具输入反射系数和整体S矩阵进行去嵌入计算,得到被测耦合探头的传递函数;基于被测耦合探头的传递函数对被测耦合探头进行校准。本方法可实现覆盖20GHz探头传输特性的测量,更加满足现有集成电路领域对传导发射测量的需求。

    一种超宽带的传导发射直接耦合探头的校准方法

    公开(公告)号:CN118962558A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411325877.8

    申请日:2024-09-23

    Abstract: 本发明公开了一种超宽带的传导发射直接耦合探头的校准方法,其包括以下步骤:对矢量网络分析仪进行双端口校准;在矢量网络分析仪的两个端口之间连接直通校准夹具,测量得到直通校准夹具的S矩阵;仅在矢量网络分析仪的第一端口连接开路校准夹具,测量得到开路校准夹具的输入反射系数;测量得到开路校准夹具和被测耦合探头形成的整体S矩阵;基于直通校准夹具的S矩阵、开路校准夹具输入反射系数和整体S矩阵进行去嵌入计算,得到被测耦合探头的传递函数;基于被测耦合探头的传递函数对被测耦合探头进行校准。本方法可实现覆盖20GHz探头传输特性的测量,更加满足现有集成电路领域对传导发射测量的需求。

Patent Agency Ranking