-
公开(公告)号：CN104502948B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201410771536.3
申请日：2014-12-12
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明涉及一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵的相对响应关系检测方法,包括以下步骤：步骤(1)射束主轴沿线矩阵中心法线从正面穿过线矩阵中心，该位置作为初始位置，待出束条件稳定后，采集一组辐射场的测量数据，记录每个探测元件初始位置的测量数据；步骤(2)整体移动探测器矩阵，使得相邻两支探测器依次在辐射野的相同位置接受同样的辐射，并记录移动后每个探测元件的测量数据；步骤(3)经过步骤(1)和步骤(2)后，在每个探测元件对应的位置分别可以获得两个相邻探测元件的测量结果，采用递归算法，计算探测元件之间的相对响应关系。该方法简便易行，对于测量所用的辐射场无特殊要求，测量过程步骤少，评价数据可靠。
-
公开(公告)号：CN104502948A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410771536.3
申请日：2014-12-12
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明涉及一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵的相对响应关系检测方法,包括以下步骤：步骤(1)射束主轴沿线矩阵中心法线从正面穿过线矩阵中心，该位置作为初始位置，待出束条件稳定后，采集一组辐射场的测量数据，记录每个探测元件初始位置的测量数据；步骤(2)整体移动探测器矩阵，使得相邻两支探测器依次在辐射野的相同位置接受同样的辐射，并记录移动后每个探测元件的测量数据；步骤(3)经过步骤(1)和步骤(2)后，在每个探测元件对应的位置分别可以获得两个相邻探测元件的测量结果，采用递归算法，计算探测元件之间的相对响应关系。该方法简便易行，对于测量所用的辐射场无特殊要求，测量过程步骤少，评价数据可靠。
-
公开(公告)号：CN116705378A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310537617.6
申请日：2023-05-12
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种用于提高热中子注量率和热中子占比的反射腔，涉及中子物理以及中子应用技术领域。本发明包括平板底座，平板底座下表面固定连接设有滑块，平板底座上方设有反射腔组件，反射腔组件包括外防护层、反射腔体以及圆柱销。本发明根据中子与物质相互作用的机理，首次采用高密度聚乙烯作为中子反射材料，反射效率高，腔体结构设计合理，通过中子多次反射，有效提高了热中子注量率和热中子占比；反射腔部件在实际应用中，能够有效地提高热中子参考场的热中子注量率和热中子占比，同时能够起到中子/γ辐射防护作用，保障操作过程中实验人员的安全性。
-
公开(公告)号：CN116435002A
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202310415053.9
申请日：2023-04-18
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G21K1/10
Abstract: 本发明公开了一种用于改善热中子分布均匀性的均整透镜，涉及中子物理以及中子技术领域。本发明包括均整透镜本体，均整透镜本体为球冠形状设计，均整透镜本体一侧设有中子出射面，均整透镜本体厚度沿着中心位置往边缘逐渐减小，均整透镜本体的材质为高密度聚乙烯。本发明利用氢原子核热中子俘获截面大的特点，首次采用高密度聚乙烯作为中子吸收材料，通过聚乙烯材料厚度变化调整慢化体出射面不同位置的热中子注量，使得热中子在穿过透镜后的分布变得均整，提高了热中子参考辐射场中热中子注量分布的均匀性；其中，均整透镜可以根据需要进行尺寸和形状的调整，以适应不同的热中子参考辐射装置，结构运用多元化。
-
公开(公告)号：CN114114379A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111235042.X
申请日：2021-10-22
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明属于中子物理与中子应用技术领域，提供了一种双辐射场的热中子参考辐射装置。该双辐射场的热中子参考辐射装置包括：第一保护层、第二保护层、中子源板、第一慢化层、第一均整透镜、第一辐射场、第一反射层、第二慢化层、第二均整透镜、第二辐射场以及第二反射层。一方面，中子源板释放的快中子依次经过第一慢化层、第一均整透镜以及第一反射层，最终得到热中子通量均匀且热中子注量率高的第一辐射场；另一方面，中子源板释放的快中子依次经过第二慢化层、第二均整透镜以及第二反射层，最终得到热中子通量均匀且热中子占比高的第二辐射场。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107632317A
公开(公告)日：2018-01-26
申请号：CN201710957786.X
申请日：2017-10-16
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/02
Abstract: 本发明实施例涉及一种丙氨酸剂量计，包括：5wt％～15wt％的第一混合物和85wt％～95wt％的丙氨酸；第一混合物包括微晶蜡和高温石蜡。还提供丙氨酸剂量计的制备方法，包括：按照第一混合物和丙氨酸的重量百分比要求配料；将第一混合物和高温石蜡和丙氨酸混合，放置于100℃真空干燥箱内4个小时，然后在真空的条件下冷却至20℃～25℃，切碎，放入双螺杆挤出机内进行两次或多次混匀挤出，得到第二混合物，放入研磨机内研磨，再放入真空干燥箱内干燥4个小时，冷却，用压片机进行压制，得到丙氨酸剂量片，放置于真空干燥箱内，保持100℃的条件2个小时，60℃的条件1个小时，冷却至20℃～25℃，得到丙氨酸剂量计。
-
公开(公告)号：CN118882540B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202410924932.9
申请日：2024-07-11
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于近场散斑的大曲率X射线光学元件面形检测方法，通过不同光路布局分别获取散斑图A、散斑图B和散斑图C的图像数据；在散斑图A和散斑图B之间进行DIC运算，获得入射光的波前分布；基于散斑图A、入射光的波前和待测光学元件的理想模型，用光学仿真技术生成参考图像；在所述参考图像与散斑图C之间进行DIC运算，获得待测光学元件的面形误差；合成待测光学元件的理想模型与面形误差，获得待测光学元件的实际面形。本发明根据近场散斑传播理论和光学元件的理想面形预测大曲率光学元件产生的散斑严重形变，进而扣除这一严重形变，准确测量面形误差，通过合成理想面形与面形误差，实现对大曲率X射线光学元件实际面形的检测。
-
公开(公告)号：CN118882540A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410924932.9
申请日：2024-07-11
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于近场散斑的大曲率X射线光学元件面形检测方法，通过不同光路布局分别获取散斑图A、散斑图B和散斑图C的图像数据；在散斑图A和散斑图B之间进行DIC运算，获得入射光的波前分布；基于散斑图A、入射光的波前和待测光学元件的理想模型，用光学仿真技术生成参考图像；在所述参考图像与散斑图C之间进行DIC运算，获得待测光学元件的面形误差；合成待测光学元件的理想模型与面形误差，获得待测光学元件的实际面形。本发明根据近场散斑传播理论和光学元件的理想面形预测大曲率光学元件产生的散斑严重形变，进而扣除这一严重形变，准确测量面形误差，通过合成理想面形与面形误差，实现对大曲率X射线光学元件实际面形的检测。
-
公开(公告)号：CN107843911B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201710957788.9
申请日：2017-10-16
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/02
Abstract: 本发明实施例涉及一种改善丙氨酸剂量计测量信噪比的装置，包括：谐振腔、外石英管、内石英管、真空阀门、小型真空泵、丙氨酸剂量计和旋转台；外石英管为圆柱管，包括底面和侧壁，穿设于谐振腔的开口中；内石英管为圆柱管，设于外石英管中，内石英管的底端与外石英管的底面固定连接；丙氨酸剂量计为圆柱体，置于内石英管的顶端上；丙氨酸剂量计的直径大于内石英管的外径且小于外石英管的内径；旋转台上设置有旋转孔；旋转孔的内径与外石英管的外径相匹配；外石英管通过旋转孔套接于旋转台，通过旋转台的转动带动外石英管旋转，使得丙氨酸剂量计的测量角度随转动发生改变，从而在不同的角度对丙氨酸剂量计进行共振波谱测量；使用真空泵保证测量样品管内相对真空，减少氧气对测量的影响。
-
公开(公告)号：CN109568810A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811407556.7
申请日：2018-11-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: A61N5/10
Abstract: 本发明实施例提供了一种自动扫描水模体系统定位性能检测装置。该装置包括：X轴向和Y轴向运动检测装置，Z轴向运动检测装置，探测器运动轨迹延长装置，支架；所述X轴向和Y轴向运动检测装置包括X轴向的主尺、游标和第一激光位移传感器，所述游标安装在所述主尺上，所述第一激光位移传感器安装在所述游标上；所述Z轴向运动检测装置包括高度尺和第二激光位移传感器，所述第二激光位移传感器安装在所述高度尺上；所述探测器运动轨迹延长装置跟随所述自动扫描水模体系统的探测器移动支架移动；所述X轴向和Y轴向运动检测装置和所述Z轴向运动检测装置安装在所述支架上。实现了非接触方式检测探测器的定位性能，测量结果的准确性更高。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
19
records
(took 0.028 seconds)
