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公开(公告)号：CN220627416U
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202321339541.8
申请日：2023-05-30
Applicant: 中国计量大学
IPC: G11C29/56
Abstract: 本实用新型公开了一种DDR测试装置，涉及DDR测试装置技术领域，包括底圆盘，底圆盘的顶部固定连接有支撑底杆，支撑底杆的中部活动连接有支撑顶杆，本实用新型提供一种DDR测试装置，通过在底固定圆环的顶部固定连接有底滚动圆轨，在底滚动圆轨的中部活动连接有滚动珠，在顶坡面圆环的顶部固定连接有安装座，顶坡面圆环的顶面为斜坡面，在的顶部活动连接有上压盖，可以将芯片放置在安装座和上压盖的中部，进行检测，在检测过程中，可以将顶坡面圆环进行转动，这样顶滚动圆轨和底滚动圆轨相对进行转动，可以更快的进行下一个芯片的检测，检测的速率提高，检测时间更短，有利于提高检测效率，解决了以往检测效率低，检测不方便的问题。
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