一种应用于X射线芯片检测的辅助装置

    公开(公告)号:CN222211774U

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202420130779.8

    申请日:2024-01-18

    Inventor: 唐莹 褚兴宇 韦一

    Abstract: 本实用新型公开了一种应用于X射线芯片检测的辅助装置,属于X射线芯片检测设备领域。该辅助装置包括检测装置本体、芯片夹持装置、排气管、支撑底座和控制模块。检测装置本体侧面固定有用于放置待检测芯片的芯片夹持装置,两者内侧连通。芯片夹持装置的外侧设有可拆卸的框架,框架上设有过滤网和除湿板。芯片夹持装置内腔的侧壁固定有挡块,挡块前方开设侧孔。卡杆穿过侧孔,与挡块配合作用固定待检测芯片。检测装置本体正面设置可开启的箱门,底部设有支撑底座,支撑底座内腔内设有可收纳的移动轮。本实用新型提供的辅助装置,具备除尘和除湿的有点,避免空气中的灰尘和湿气影响检测芯片的精准度。

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