公开(公告)号：CN109141811A

公开(公告)日：2019-01-04

申请号：CN201810930108.9

申请日：2018-08-15

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 孔明 ,  董萍 ,  单良 ,  王道档 ,  赵军 ,  包福兵 ,  于明州

IPC: G01M10/00

CPC classification number: G01M10/00

Abstract: 本发明提供一种基于异步延时法的颗粒动态轨迹测量系统及方法，涉及测量技术领域。片激光光源光照介质溶液被测平面中悬浮的示踪粒子，示踪粒子散射的光投影到半透半反棱镜，分解为反射像和透射像，反射像和透射像被CCD相机Ⅰ和CCD相机Ⅱ连续交替拍摄，形成一个时间序列的成像为示踪粒子颗粒的拖影轨迹图，用MATLAB软件和基于Otsu算法的动态灰度阈值，提取序列示踪粒子颗粒的拖影轨迹图中的颗粒运动轨迹，按时间序列进行加法运算得到完整的示踪粒子颗粒动态轨迹。本发明解决了现有技术中PIV测量设备价格昂贵、测量分析软件复杂的技术问题。本发明有益效果为：降低了PIV测量技术的成本，降低了系统搭建和使用的难度。算法简单，保证测量精度。