应用于OLED材料和器件结构测试的单元

    公开(公告)号:CN108760243A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201810957747.4

    申请日:2018-08-22

    CPC classification number: G01M11/00 G01R31/2635

    Abstract: 本发明涉及一种应用于OLED材料和器件结构测试的单元,包括基板、ITO电极层、有机层、阴极、玻璃罩;ITO电极印刷于基板上表面;有机层呈方形蒸镀在ITO电极层表面,其中ITO电极层裸露出长度不多于2厘米部分在有机层之外;阴极蒸镀于有机层表面,且裸露长3‑5毫米在有机层区域之外连接ITO电极层;玻璃罩盖住ITO电极层,有机层,阴极并与基板粘连,其中ITO电极层有距基板边缘3‑5毫米未覆盖;ITO电极层呈中心发散形,且发散端为方形;ITO电极层与阴极交叠重合区域为待测圆形区域。本发明结可消除材料损耗电阻率变化对后续测量点的影响,测试同一材料不同发光面积的发光特性,指导进行OLED材料和器件结构选择和设计。

    可旋转的OLED材料和器件结构测试用模块

    公开(公告)号:CN208350937U

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201821138139.2

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本实用新型涉及一种可旋转的OLED材料和器件结构测试用模块,其包括实验平台、控制电机、固定转盘、玻璃基板、测试台、ITO阳极测试端口、有机层、金属阴极、玻璃罩;玻璃基板固定在固定转盘上;ITO阳极测试端口印刷在玻璃基板上;有机层呈圆形蒸镀在ITO阳极表面;金属阴极蒸镀于有机层表面;玻璃罩罩住金属阴极、有机层、部分ITO阳极测试端口并与玻璃基板粘连;测试台环绕圆形玻璃基板,并与基板有一厘米的间隔;阴极测试半环蒸镀于测试台上。该结构可以减少测试单体不同点测试导致电阻率的变化,带来的交叉影响;同时不同面积的待测区域,可以进行同一材料不同发光面积的测试。

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