-
公开(公告)号：CN117233877A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311199360.4
申请日：2023-09-14
Applicant: 中国计量大学
IPC: G02B5/00 , G02B5/04 , G01N21/3581
Abstract: 本发明公开一种表面波增强痕量待测物太赫兹宽带吸收谱器件及制备方法，器件棱镜；薄板，所述薄板位于棱镜的下方，且薄板的第一表面设有薄膜分析层，薄膜分析层与棱镜之间设有间隙，所述薄板的第二表面设置匹配溶液；楔形薄板，所述楔形薄板位于薄板的第二表面及匹配溶液的下方；太赫兹波从棱镜一侧垂直入射，经间隙填充的空气层、薄膜分析层、薄板、匹配溶液、楔形薄板再反射回棱镜，其中，楔形薄板在沿薄板的第二表面移动时，太赫兹波随楔形薄板的厚度而改变谐振频率，并将不同谐振频率对应的吸收谱谐振峰连接形成包络线，建立薄膜分析层的增强吸收光谱。吸收峰幅度随薄膜分析层的特征吸收峰变化而变化，增强薄膜分析层的太赫兹光谱指纹特性谱。
Search Results
1
records
(took 0.013 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
