公开(公告)号：CN107957251B

公开(公告)日：2019-12-20

申请号：CN201610905555.X

申请日：2016-10-18

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 王道档 ,  王志超 ,  张森 ,  龚志东 ,  刘维 ,  孔明 ,  赵军 ,  郭天太

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明公开了一种基于计算机辅助校正的反射球面通用化检测方法，利用逆向哈特曼检验光路结构，提出了采用计算机辅助技术对测量系统结构位置参数进行优化，有效降低了系统结构位置参数误差对面形检测结果的影响。本发明利用传统的三维坐标测量设备对测量系统结构位置参数进行预标定，再对待测反射球面进行局部斜率测量，利用积分法得到面形误差数据，在此基础上利用计算机辅助技术，通过数值迭代优化算法对系统结构位置参数进行进一步优化，进而对测量系统结构位置参数标定误差进行有效校正，由此实现通用化的反射球面测量。本发明为反射球面的高精度测量提供一种通用化可行方法，并具有极其重要的实际应用价值。

公开(公告)号：CN107957251A

公开(公告)日：2018-04-24

申请号：CN201610905555.X

申请日：2016-10-18

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 王道档 ,  王志超 ,  张森 ,  龚志东 ,  刘维 ,  孔明 ,  赵军 ,  郭天太

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明公开了一种基于计算机辅助校正的反射球面通用化检测方法，利用逆向哈特曼检验光路结构，提出了采用计算机辅助技术对测量系统结构位置参数进行优化，有效降低了系统结构位置参数误差对面形检测结果的影响。本发明利用传统的三维坐标测量设备对测量系统结构位置参数进行预标定，再对待测反射球面进行局部斜率测量，利用积分法得到面形误差数据，在此基础上利用计算机辅助技术，通过数值迭代优化算法对系统结构位置参数进行进一步优化，进而对测量系统结构位置参数标定误差进行有效校正，由此实现通用化的反射球面测量。本发明为反射球面的高精度测量提供一种通用化可行方法，并具有极其重要的实际应用价值。