一种抗漂白单分子定位三维超分辨显微系统

    公开(公告)号:CN107941777B

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN201810014176.0

    申请日:2018-01-08

    Abstract: 本发明公开了一种抗漂白单分子定位三维超分辨显微系统,包括第一激光器、扩束准直单元、相位光栅、第三透镜、第一二色镜、物镜、样品台、滤光片、第四透镜、探测器、第二二色镜、第二激光器。本发明利用时域聚焦特性,只在时域聚焦平面产生样品的荧光激发,并同时实现对整个时域聚焦平面内荧光的激发。因此,本发明与原有技术相比,能够避免对非聚焦平面内样品的漂白,并能够有效提高SMS荧光显微技术的工作效率。

    一种深度成像超分辨显微成像系统

    公开(公告)号:CN108303806A

    公开(公告)日:2018-07-20

    申请号:CN201810097037.9

    申请日:2018-01-31

    Abstract: 本发明公开了一种深度成像超分辨显微系统,包括第一激光器、第一透镜、第一二色镜、第二二色镜、第二激光器、第六透镜、相位调制组件、第三二色镜、变形反射镜、X轴扫描振镜、相位补偿组件、Y轴扫描振镜、竖直光路折转匹配单元、第二四分之一波片、显微物镜、样品台、水平光路折转匹配单元、第一滤光片、波前传感器、第二滤光片、第十透镜、成像器件。该系统利用双光子效应,利用波前传感器和变形反射镜补偿荧光波前相位变化,结合样品台在Z轴方向的移动,在修正样品所带来的像差的同时实现三维深度成像,成像质量更高。

    一种抗漂白单分子定位三维超分辨显微系统

    公开(公告)号:CN107941777A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201810014176.0

    申请日:2018-01-08

    Abstract: 本发明公开了一种抗漂白单分子定位三维超分辨显微系统,包括第一激光器、扩束准直单元、相位光栅、第三透镜、第一二色镜、物镜、样品台、滤光片、第四透镜、探测器、第二二色镜、第二激光器。本发明利用时域聚焦特性,只在时域聚焦平面产生样品的荧光激发,并同时实现对整个时域聚焦平面内荧光的激发。因此,本发明与原有技术相比,能够避免对非聚焦平面内样品的漂白,并能够有效提高SMS荧光显微技术的工作效率。

    一种用于火车的车头灯装置

    公开(公告)号:CN107917402A

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201711390951.4

    申请日:2017-12-21

    CPC classification number: F21V19/001 F21Y2115/10

    Abstract: 本发明公开了一种用于火车的车头灯装置,包括第一抛物线型反光碗、第二抛物线型反光碗、第一发光二极管、第二发光二极管、第三发光二极管、第四发光二极管、第五发光二极管、第六发光二极管、第七发光二极管、第八发光二极管、第九发光二极管、第十发光二极管。本发明采用发光二极管作为光源,系统架构简单,成本较低。本发明可以克服以往基于白炽灯或卤素灯等传统光源的火车车头灯在能耗及尺寸上的不足。因此,本发明与原有技术相比,不仅能够显著提高系统性能,而且节能环保。

    一种补偿任意光学相位延迟的波片组设计方法

    公开(公告)号:CN107102436A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201710332040.X

    申请日:2017-05-10

    Inventor: 李旸晖 周辉 来邻

    Abstract: 本发明公开了一种补偿任意光学相位延迟的波片组设计方法,包括:1)将波片组置于待补偿光学相位延迟的光学系统光路的前端或后端;2)以待补偿光学相位延迟的光学系统作参考,光学系统的快轴方向为横坐标,建立笛卡尔坐标系;3)将相应琼斯矩阵依次左乘,得到经波片组调制后的光学系统的琼斯矩阵;4)将相应琼斯矢量依次左乘,得到出射光波的琼斯矢量;5)将调制后的出射光波的琼斯矢量与所需出射光波偏振态对应的琼斯矢量进行比较,计算出需要调节的波片组中各个波片跟参考坐标系横坐标夹角;6)根据计算出的波片组中各个波片跟参考坐标系横坐标夹角,转动波片组中各个波片,完成对待补偿光学相位延迟光学系统产生的光学相位延迟的补偿。

    一种基于单通道的多色超分辨显微系统及方法

    公开(公告)号:CN106442445A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610825359.1

    申请日:2016-09-18

    CPC classification number: G01N21/6458

    Abstract: 本发明公开了一种基于单通道的多色超分辨显微系统和方法,包括损耗光源、第一准直单元、位相板、第一激发光源、第一二色镜、第二准直单元、半波片、偏振分束镜、第二激发光源、第一探测器、第二二色镜、透镜-针孔-透镜组、第三二色镜、扫描镜、第二探测器、第三准直单元、四分之一波片、显微物镜和样品台。本发明采用一个损耗光源即可实现两色(或多色)的超分辨显微,系统架构简单,成本较低。本发明可以克服以往单通道多色超分辨系统中能量损失大和串扰带来的较强的背景噪声,工作精度高,结果准确。因此,本发明与原有技术相比,能够提高多色超分辨显微系统的工作效率和实验精度,并有效降低成本。

    一种基于球形微纳液滴透镜的聚焦可控超分辨显微装置

    公开(公告)号:CN107831589B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN201711257956.X

    申请日:2017-12-04

    Abstract: 本发明公开了一种基于球形微纳液滴透镜的聚焦可控超分辨显微装置,包括:激光器、反射镜、第一透镜组、二色镜、线偏振器、显微物镜、封装盒、球形微纳液滴透镜、微流管、微位移台、样品台、第二透镜组、成像器件、计算机控制系统。所述计算机控制系统控制微流管在封装盒内释放或吸收一定体积的液滴,进而调控球形微纳液滴透镜的半径,实现球形微纳液滴透镜的变焦。本发明针对现有的微纳结构聚焦特性不可控等缺点,提出了一种基于球形微纳液滴透镜的聚焦可控超分辨显微装置,该装置利用球形微纳液滴透镜产生光子纳米喷射,通过调控球形微纳液滴透镜聚焦特性,在无机械结构振动的情况下,实(56)对比文件CN 107402443 A,2017.11.28CN 202794222 U,2013.03.13CN 204389528 U,2015.06.10JP 2001091849 A,2001.04.06US 2004263959 A1,2004.12.30US 2005046936 A1,2005.03.03

    一种应用于4pi显微架构的多色超分辨成像系统

    公开(公告)号:CN108593620B

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN201810519407.3

    申请日:2018-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种应用于4pi显微架构的多色超分辨成像系统,包括光源模块、样品台、上显微镜头、下显微镜头、第一四分之一波片、第二四分之一波片、第一二色镜、第二二色镜、第一光路折转匹配单元、第二光路折转匹配单元、第一变形反射镜、第二变形反射镜、第一巴俾涅补偿器、第二巴俾涅补偿器、分束器立方体、第三光路折转匹配单元、第四光路折转匹配单元、偏振分束器立方体、第十一反射镜、第十二反射镜、第九透镜、第十透镜、直角棱镜、第三二色镜、第十一透镜、第十二透镜、第一成像器件、第二成像器件。该系统利用单分子定位技术和不同荧光分子间的串扰,结合4pi显微技术实现对整个细胞的多色三维超分辨成像。

    一种补偿任意光学相位延迟的波片组设计方法

    公开(公告)号:CN107102436B

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201710332040.X

    申请日:2017-05-10

    Inventor: 李旸晖 周辉 来邻

    Abstract: 本发明公开了一种补偿任意光学相位延迟的波片组设计方法,包括:1)将波片组置于待补偿光学相位延迟的光学系统光路的前端或后端;2)以待补偿光学相位延迟的光学系统作参考,光学系统的快轴方向为横坐标,建立笛卡尔坐标系;3)将相应琼斯矩阵依次左乘,得到经波片组调制后的光学系统的琼斯矩阵;4)将相应琼斯矢量依次左乘,得到出射光波的琼斯矢量;5)将调制后的出射光波的琼斯矢量与所需出射光波偏振态对应的琼斯矢量进行比较,计算出需要调节的波片组中各个波片跟参考坐标系横坐标夹角;6)根据计算出的波片组中各个波片跟参考坐标系横坐标夹角,转动波片组中各个波片,完成对待补偿光学相位延迟光学系统产生的光学相位延迟的补偿。

    一种结合光镊功能的扩展焦深显微成像系统

    公开(公告)号:CN108051909A

    公开(公告)日:2018-05-18

    申请号:CN201711159419.1

    申请日:2017-11-20

    Inventor: 李旸晖 周辉 王乐

    CPC classification number: G02B21/002 G02B21/0048 G02B21/0076 G02B21/008

    Abstract: 本发明公开了一种结合光镊功能的扩展焦深显微成像系统,包括:第一激光器、第一反射镜、第一分光镜、第一透镜、第二透镜、第一声光偏转器、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第二声光偏转器、第六透镜、第二分光镜、第一二色镜、第二二色镜、第一物镜、样品台、第二物镜、第三二色镜、第三分光镜、第四分光镜、第五分光镜、第一四象限位置探测器、第二四象限位置探测器、位置探测器、LED光源、第一探测器、第二激光器、第一柱面透镜、柱面透镜组、第四二色镜、扫描振镜、第一望远系统、电控透镜、第二望远系统、第二反射镜、第三望远系统、狭缝、第三反射镜、第二柱面透镜、第二探测器。系统利用电控透镜扫描不同焦深平面,无机械振动且成像质量高。

Patent Agency Ranking