公开(公告)号：CN119413221A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411984382.6

申请日：2024-12-31

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 唐莹 ,  周浩男 ,  韦一

IPC: G01D18/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G01R1/067 ,  G01R1/073 ,  G01R1/04 ,  G01R1/02

Abstract: 本发明公开了一种基于可变电阻矩阵的光电传感器模组检测装置及方法，涉及集成电路测试领域。该光电传感器模组通过可编程逻辑器件生成检测所需的数字信号，经数模转换器转换为模拟信号，再由放大电路放大后传递给可变电阻矩阵。可变电阻矩阵由多个阻值可独立调整的可变电阻组成，并联于放大电路输出端与探针卡之间。探针卡中的测试探针与可变电阻一一对应连接，将放大后的模拟信号转换为电流输入待检测光电传感器模组的引脚，模拟光电传感器输出，实现不焊接传感器情况下的外围模组检测功能。本发明通过探针卡来模拟光电传感器的输出信号，从而实现无需传感器即可直接测试外围模组的功能，且具有较高的可复用性，可节约大量成本以及时间。