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公开(公告)号：CN109084904A
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201811138095.8
申请日：2018-09-28
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明专利公开了一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置。入射光经过一分二光纤耦合器后分成两束光，一束光入射到光电探测器上作为参考光，另一束光入射到一分四光纤耦合器上，将光平均分成四束，一束光经线性滤波器后入射到光电探测器上，另三路光经由对应的多光纤准直器后入射到对应的F-P标准具上，产生对应的透射光和对应的反射光，产生的透射光经过对应的单光纤准直器后，再由光电探测器采集相应的透射光的光强，产生的反射光反射回到多光纤准直器后，经光电探测器采集对应反射光的光强，最后，将八路光电探测器采集的光强信号由采集卡采集对应的电压信号，并输入到电脑上进行分析计算得出波长。
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公开(公告)号：CN208780351U
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201821590343.8
申请日：2018-09-28
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 本实用新型专利公开了一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置。入射光经过一分二光纤耦合器后分成两束光，一束光入射到光电探测器上作为参考光，另一束光入射到一分四光纤耦合器上，将光平均分成四束，一束光经线性滤波器后入射到光电探测器上，另三路光经由对应的多光纤准直器后入射到对应的F-P标准具上，产生对应的透射光和对应的反射光，产生的透射光经过对应的单光纤准直器后，再由光电探测器采集相应的透射光的光强，产生的反射光反射回到多光纤准直器后，经光电探测器采集对应反射光的光强，最后，将八路光电探测器采集的光强信号由采集卡采集对应的电压信号，并输入到电脑上进行分析计算得出波长。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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