薄膜透气性测试的光学方法及装置

    公开(公告)号:CN109253958B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN201811124125.X

    申请日:2018-09-26

    Abstract: 本发明涉及一种薄膜透气性测试的光学方法及装置,包括宽带光源、光谱仪、2×1‑3dB耦合器、单模光纤、光纤微腔结构、密封气室、压力表、传压管以及升压装置。所述光纤微腔结构是在单模光纤后熔接一段空芯光纤制成,空芯光纤的末端镀有一定厚度的待测薄膜。气密闭室中压力增大的瞬间,光纤微腔结构末端的待测薄膜被挤压,光谱仪中可以观察到干涉光谱发生剧烈漂移;随后密闭气室中高压气体透过薄膜进入到光纤微腔内部,最终光纤微腔内外压强达到稳定,薄膜恢复自由状态;通过观测光谱仪中光谱恢复到稳定状态的时间,可以测试薄膜的透气性。本发明提出一种薄膜透气性测试的光学方法及装置,具有结构紧凑简单、测量精度高、响应时间快、成本低等优点。

    薄膜透气性测试的光学方法及装置

    公开(公告)号:CN109253958A

    公开(公告)日:2019-01-22

    申请号:CN201811124125.X

    申请日:2018-09-26

    CPC classification number: G01N15/082 G01N2015/086

    Abstract: 本发明涉及一种薄膜透气性测试的光学方法及装置,包括宽带光源、光谱仪、2×1-3dB耦合器、单模光纤、光纤微腔结构、密封气室、压力表、传压管以及升压装置。所述光纤微腔结构是在单模光纤后熔接一段空芯光纤制成,空芯光纤的末端镀有一定厚度的待测薄膜。气密闭室中压力增大的瞬间,光纤微腔结构末端的待测薄膜被挤压,光谱仪中可以观察到干涉光谱发生剧烈漂移;随后密闭气室中高压气体透过薄膜进入到光纤微腔内部,最终光纤微腔内外压强达到稳定,薄膜恢复自由状态;通过观测光谱仪中光谱恢复到稳定状态的时间,可以测试薄膜的透气性。本发明提出一种薄膜透气性测试的光学方法及装置,具有结构紧凑简单、测量精度高、响应时间快、成本低等优点。

    一种基于长周期PCF光栅的远传隔膜压力表

    公开(公告)号:CN208872458U

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201821388641.9

    申请日:2018-08-27

    Abstract: 本实用新型涉及一种基于长周期PCF光栅的远传隔膜压力表,其特征在于包括宽带光源、传输光纤、弹簧管压力表、隔离膜盒、传压介质、长周期PCF光栅、光纤法兰、光谱仪。所述隔离膜盒由弹性隔离膜片分成两部分。上部分与弹簧管连通,下部分与待测介质连通。隔离膜片和弹簧管之间充有传压介质;长周期PCF光栅放置在两层隔离膜片的中间,呈自由伸直状态。待测压力进入系统后,挤压隔离膜片,长周期PCF光栅也会发生弯曲形变。通过观测光谱仪中长周期PCF光栅谐振波长的漂移,可实现压力的精确测量。本实用新型提出一种结构简单、成本低、安全可靠、灵敏度高、消除温度影响、能够同时远程传输和现场读取的基于长周期PCF光栅的远传隔膜压力表。

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