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公开(公告)号：CN112882942A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110261097.1
申请日：2021-03-10
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种计量器具软件维护性指标度量装置及方法，包括：外围仿真平台及与其连接的MCU芯片和上位机检测计算机；所述MCU芯片，提供软件运行环境，用于装载并实时运行被测软件；所述上位机检测计算机，用于建立测试平台与测试人员之间的接口，实现被测软件的加载、软件模块的辨识和标识、检测过程监控及结果记录分析与评价，数据的输出；所述外围仿真平台，用于提供MCU芯片与外围交联设备的通信接口，模拟软件运行环境下，外围交联设备的外部特性，并实时向被测软件加载激励数据，接收被测软件运行输出数据，将接收外部接口的数据进行处理，再传输给上位机检测计算机，进行结果记录分析与评价。
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公开(公告)号：CN112882942B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202110261097.1
申请日：2021-03-10
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种计量器具软件维护性指标度量装置及方法，包括：外围仿真平台及与其连接的MCU芯片和上位机检测计算机；所述MCU芯片，提供软件运行环境，用于装载并实时运行被测软件；所述上位机检测计算机，用于建立测试平台与测试人员之间的接口，实现被测软件的加载、软件模块的辨识和标识、检测过程监控及结果记录分析与评价，数据的输出；所述外围仿真平台，用于提供MCU芯片与外围交联设备的通信接口，模拟软件运行环境下，外围交联设备的外部特性，并实时向被测软件加载激励数据，接收被测软件运行输出数据，将接收外部接口的数据进行处理，再传输给上位机检测计算机，进行结果记录分析与评价。
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