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发明公开
一种用于弹性元器件阻抗测试的装置及方法审中-实审

公开(公告)号：CN117289023A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311232505.6

申请日：2023-09-22

Applicant: 中国舰船研究设计中心

Inventor： 陈鹏 , 沈兵 , 阮竹青 , 齐旺 , 淳勇

IPC: G01R27/02 , G01M7/02 , G01M7/06

Abstract: 本发明提出一种用于弹性元器件阻抗测试的装置及方法，包括台架基座、加载系统、测试系统、待测设备和质量块，加载系统安设于台架基座顶部，测试系统包括上测试机构和下测试机构，分别安设于加载系统的底面中心，及台架基座的顶面中心，待测设备包括同型号同批次的上弹性元器件和下弹性元器件，质量块设于上、下弹性元器件之间，顶部与上测试机构相连接，底部与下测试机构相连接，本发明可提高弹性元器件阻抗测试精度和测试效率。

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