一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法

    公开(公告)号:CN114509165B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202111563838.8

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法,属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成,镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接,也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器,仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备,使用3个及以上光谱辐射能量信息,根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系,拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式,即能够准确测算出目标的表面温度,从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备,还能够提高目标光谱发射率的测量精度。

    一种可变压的高温材料热环境试验装置

    公开(公告)号:CN111220456A

    公开(公告)日:2020-06-02

    申请号:CN202010233831.9

    申请日:2020-03-30

    Abstract: 本发明公开的一种可变压的高温材料热环境试验装置,属于环境试验技术领域。本发明包括水冷承压腔、压力控制系统、加热芯、温度控制系统、水冷系统、待测材料或器件及其检测系统。水冷承压腔的外形采用圆柱结构主要由水冷密封前盖、水冷承压桶及承压腔后密封盖组成;水冷密封前盖上分布有压力控制器连接端口、限压阀、控温及加热电极、水冷接口;承压腔后密封盖为易拆装结构,用于压紧密封块,便于被测材料或装置更换。本发明采用在可变压环境中设置加热单元,并将承压结构改进为水冷承压结构,使试验温度及压力的上限极大提高,能够实现0~7MPa及300℃~1200℃条件下的可变压的高温材料热环境试验。本发明具有结构简单、易于实现的优点。

    一种高温共晶点预共晶灌注坩埚

    公开(公告)号:CN107115906B

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201710352397.4

    申请日:2017-05-18

    Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚,属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形,包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹,预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹,二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后,以倒置方式连接在共晶点坩埚上,加热后使共晶体变为熔融态,在重力作用下流入共晶点坩埚内,实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险,避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连,使得预共晶坩埚能够重复利用,解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题,节约了灌注成本。

    一种高温共晶点预共晶灌注坩埚

    公开(公告)号:CN107115906A

    公开(公告)日:2017-09-01

    申请号:CN201710352397.4

    申请日:2017-05-18

    Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚,属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形,包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹,预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹,二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后,以倒置方式连接在共晶点坩埚上,加热后使共晶体变为熔融态,在重力作用下流入共晶点坩埚内,实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险,避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连,使得预共晶坩埚能够重复利用,解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题,节约了灌注成本。

    一种应用于标准光电高温计的多功能测试电路

    公开(公告)号:CN115597727A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202211043995.0

    申请日:2022-08-30

    Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多功能测试电路,涉及信号测试技术领域。本发明包括光电探测器、第一开关、校准接口、第二开关、放大器、模拟输出接口、数字电路模块、数字输入接口、机箱接口、机箱。光电探测器的输出信号,通过第一开关连接到校准接口上,再通过第二开关连接到放大器上,放大器通过模拟输出接口输出,模拟输出接口通过线缆与数字电路模块的输入接口相连,模拟输出接口也能够与机箱接口相连,全部电路安装在机箱内部。本发明通过切换不同的连接通路,能够在设备整机组装后不焊开导线或器件的条件下,实现多种测试功能,便于标准光电高温计的使用、调试和故障定位,实现标准光电高温计的高精度测试。

    一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法

    公开(公告)号:CN114509165A

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202111563838.8

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法,属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成,镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接,也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器,仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备,使用3个及以上光谱辐射能量信息,根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系,拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式,即能够准确测算出目标的表面温度,从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备,还能够提高目标光谱发射率的测量精度。

    一种内锥型均温靶热管黑体

    公开(公告)号:CN106052884B

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201610366117.0

    申请日:2016-05-28

    Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体,属于辐射测温技术领域;该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计,减小了热管与黑体空腔之间的导热损失,提高了加热效率及升温速度;在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4),使标准热电偶与靶面之间距离尽量小,保证了靶面温度的准确性;同时,内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度,减小导热误差;热管(5)采用三段加热,每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上,其中两段加热包裹在热管的柱体外部,第三段加热为加热盘,放置在热管的底部,分别调整三段的温度,保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术,本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。

    一种应用于标准光电高温计的多点控温系统

    公开(公告)号:CN115390599B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202210989168.4

    申请日:2022-08-17

    Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统,属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置,将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上,实现对标准光电高温计的多点控温,保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作,实现标准光电高温计的高精度测温。此外,采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点,热敏电阻同分压电阻组成分压电路,由预设电压可调电路设置参考电压,通过比较热敏电阻分压和参考电压大小,由比较控制电路判断后控制加热开关通断,实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现,能耗低、易于实现。

    一种应用于标准光电高温计的多点控温系统

    公开(公告)号:CN115390599A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202210989168.4

    申请日:2022-08-17

    Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统,属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置,将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上,实现对标准光电高温计的多点控温,保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作,实现标准光电高温计的高精度测温。此外,采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点,热敏电阻同分压电阻组成分压电路,由预设电压可调电路设置参考电压,通过比较热敏电阻分压和参考电压大小,由比较控制电路判断后控制加热开关通断,实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现,能耗低、易于实现。

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