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公开(公告)号：CN111898236B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202010448476.7
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明提供一种基于失效大数据的加速贮存试验加速因子分析方法，利用不同种电子整机在贮存过程中的得到的失效大数据，更准确地分析电子整机的加速因子，从而提高贮存期验证的准确性。具体包括：获取电子整机的元器件清单；根据电子整机的质量数据库中查询所述元器件清单中的每种元器件型号的贮存失效信息，形成电子整机失效元器件清单；计算或查表得到所述失效元器件清单中每个元器件在贮存温度Tu和加速贮存试验温度TA下的失效率，形成元器件失效率表；根据所述元器件失效率表分析加速贮存(56)对比文件Jie Zhou et al..The step-down-stressaccelerated storage testing evaluationmethods of small sample electronicproducts based on Arrhenius model《.: 201410th International Conference onReliability, Maintainability and Safety(ICRMS)》.2015,全文.张生鹏;李宏民;赵朋飞.导弹装备贮存寿命加速试验技术体系探讨.装备环境工程.2018,(第02期),全文.刘佩风;王毅飞;白明明;马晓东;王冀宁.电子整机加速贮存试验及寿命评估方法研究.强度与环境.2018,(第01期),全文.盖炳良;滕克难;王浩伟;夏菲.整机级装备贮存延寿试验技术.火力与指挥控制.2018,(第01期),全文.王浩伟;滕克难;吕卫民.导弹贮存延寿试验关键技术及研究进展.含能材料.2019,(第12期),全文.李海波;张正平;胡彦平.加速寿命试验方法及其在航天产品中的应用.强度与环境.2007,(第01期),全文.向刚;苗静;邱丰.航天电子产品贮存期评估方法研究.电子测量技术.2017,(第01期),全文.林震;李宪姗;姜同敏;程永生;胡斌.整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨.航空标准化与质量.2006,(第04期),全文.赵婉;韩天龙.基于活化能的火工品加速贮存寿命试验优化设计方法.含能材料.2009,(第04期),全文.周秀峰;姚军;张俊.电子整机加速贮存试验的Dirichlet分析方法.航空学报.2011,(第07期),全文.苏承毅;牟春晖;何江;何保成.整机级加速贮存试验加速因子与真实度评估方法.战术导弹技术.2015,(第01期),全文.陈津虎;朱曦全;胡彦平;王冀宁;李星.航天电子产品加速贮存试验技术综述.强度与环境.2015,(第05期),全文.赵婉.航天火工装置步进应力加速贮存寿命试验方法研究.质量与可靠性.2008,(第03期),全文.张生鹏;王晓红;李晓钢.电子整机加速贮存试验方案设计.质量与可靠性.2011,(第02期),全文.蔡健平等.基于POF 的温度应力加速试验失效机理一致性研究《.装备环境工程》.2016,第13卷(第6期),第104-109页.
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公开(公告)号：CN111141977B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN201911389944.1
申请日：2019-12-30
Applicant: 中国航天标准化研究所
Abstract: 本发明提供一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，解决了多应力条件下(振动、温度、湿度、电等多种应力参数)电子产品贮存期验证的问题。步骤一、分析贮存期指标，得到运输时间，存放时间，加电待机时间；步骤二、分解贮存剖面，得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值；步骤三、分析试验应力，得到运输阶段的振动应力、存放阶段的最高温度应力和最高湿度应力、加电待机阶段的最高电应力；步骤四、计算运输阶段的加速因子、存放阶段的加速因子和加电待机阶段的加速因子；步骤五、根据加速因子计算试验时间。
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公开(公告)号：CN114218676A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111544204.8
申请日：2021-12-16
Applicant: 中国航天标准化研究所
Inventor： 徐洪武 , 王伟 , 朱炜 , 陈凤熹 , 耿海 , 贾艳辉 , 李婧 , 蔡健平 , 王喜奎 , 韩天龙 , 施帆 , 张晓军 , 伍招冲 , 张睿 , 宋汝宁 , 刘艳荣 , 李觐竹 , 毛敏
IPC: G06F30/15 , G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 一种基于时变应力的多模式电推力器寿命预测方法，包括，获取不同探测阶段的工作模式以及与各个工作模式相对应的工作时间；通过预先训练好的参数预测模型，得到不同工作模式的应力下的溅射刻蚀初始退化率，漂移系数和扩散系数；根据溅射刻蚀初始退化率，漂移系数和扩散系数计算时变应力下电推力器栅极系统溅射刻蚀程度；根据时变应力下电推力器栅极系统溅射刻蚀程度，计算应力下栅极磨损变化情况；设定溅射刻蚀阈值，根据栅极磨损变化情况，计算各个工作模式下到达加速栅的刻蚀阈值所需要的时间，并进行累加，得到电推力器的寿命；本发明考虑了不同模式下电推力器溅射刻蚀对寿命的影响，通过各个模式下的溅射刻蚀情况进行累积得到电推力器寿命。
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公开(公告)号：CN106682273B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201611103084.7
申请日：2016-12-05
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种串并联混合系统寿命重要度确定方法，可以建立串并联模型下设备寿命和系统寿命之间的关系，定量化设备寿命的变化对系统寿命影响，度量不同位置不同寿命水平的设备对实现系统寿命指标的重要度。为串并联混合系统中不同设备重要度提供分析方法，可以用于卫星、导弹、空间站等大型航天装备系统开展不同寿命设计方案的比较和优化，并可以用于确定寿命薄弱环节，从而可以支持在有限的时间和经费条件下实现寿命提升效益的最大化。
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公开(公告)号：CN106682273A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201611103084.7
申请日：2016-12-05
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5009
Abstract: 本发明公开了一种串并联混合系统寿命重要度确定方法，可以建立串并联模型下设备寿命和系统寿命之间的关系，定量化设备寿命的变化对系统寿命影响，度量不同位置不同寿命水平的设备对实现系统寿命指标的重要度。为串并联混合系统中不同设备重要度提供分析方法，可以用于卫星、导弹、空间站等大型航天装备系统开展不同寿命设计方案的比较和优化，并可以用于确定寿命薄弱环节，从而可以支持在有限的时间和经费条件下实现寿命提升效益的最大化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117725782A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202311661675.6
申请日：2023-12-06
Applicant: 中国航天标准化研究所 , 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/23 , G06F30/10 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种空间机构磨损寿命评价方法，包括：步骤S1、建立空间机构的三维仿真模型，并利用三维仿真模型进行空间机构在标准运动状态以及重力环境下的力学仿真得到仿真结果；步骤S2、基于仿真结果确定空间机构上多个连接节点的受力状态，并基于受力状态预测连接节点在标准运动状态以及重力环境下的磨损情况；步骤S3、基于多个连接节点的磨损情况对空间机构整体的磨损寿命进行评价并得到评价结果。通过本发明，能够实现快速对任意一种空间机构进行基于特定运动状态或者运动状态组合下的连接节点的剩余使用次数的预测。
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公开(公告)号：CN107808169B
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201711137654.9
申请日：2017-11-16
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06K9/62 , G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种航天多阶段任务系统可靠性评估方法和系统，其中，所述方法，包括：对多源可靠性数据进行分类；根据多源可靠性数据的分类结果，建立多源可靠性数据融合框架，得到融合数据；根据航天多阶段任务系统的系统特征，构建系统可靠性模型；根据所述多源可靠性数据融合框架中的融合数据，对所述系统可靠性模型进行量化；根据所述系统可靠性模型的量化结果，得到航天多阶段任务系统的可靠度。通过本发明解决了多源可靠性数据的关联和处理转化问题，充分利用不同类型的多源可靠性数据进行系统可靠性评估，使系统可靠性评估结果更加准确。
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公开(公告)号：CN111880023A
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202010550156.2
申请日：2020-06-16
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，能够计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期，从而使得验证结果更精确。该方法具体为：获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。对弹上电子装备所有的电子元器件获取激活能和失效率，并按照失效率降序排序并设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能；确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级；选取加速试验模型，结合弹上电子装备的激活能，针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子；结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和，确定试验时间ta；针对每个应力等级，均进行为期ta的贮存期加速试验。
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公开(公告)号：CN111141977A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911389944.1
申请日：2019-12-30
Applicant: 中国航天标准化研究所
Abstract: 本发明提供一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，解决了多应力条件下(振动、温度、湿度、电等多种应力参数)电子产品贮存期验证的问题。步骤一、分析贮存期指标，得到运输时间，存放时间，加电待机时间；步骤二、分解贮存剖面，得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值；步骤三、分析试验应力，得到运输阶段的振动应力、存放阶段的最高温度应力和最高湿度应力、加电待机阶段的最高电应力；步骤四、计算运输阶段的加速因子、存放阶段的加速因子和加电待机阶段的加速因子；步骤五、根据加速因子计算试验时间。
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公开(公告)号：CN116244882A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202211431202.2
申请日：2022-11-14
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法，将加速贮存试验分为恒定温度试验和温度步进试验两部分进行，温度步进试验在时间上接续在恒定温度试验之后；恒定温度试验中，将确定的试验品数量的受试产品置于恒定温度下经过所述试验时间，而温度步进试验则是在恒定温度试验的试验温度基础上按照一设定的温度梯度升温，直至试验品全部出现故障，并记录试验品出现故障时的温度和试验时长以及对应的失效元器件，形成失效的薄弱环节清单，并分析试验的加速因子，进一步计算受试产品的安全贮存期或危险贮存寿命；使用本发明能够提升电子产品贮存寿命或贮存期指标验证的高效性和准确性。
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