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发明公开
一种电子元器件S参数通用测试方法审中-实审

公开(公告)号：CN119652431A

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202411819287.0

申请日：2024-12-11

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 朱纵野 , 芮二明 , 熊园园 , 韩福禹 , 刘亦光 , 朱旭斌

IPC: H04B17/10 , H04B17/20

Abstract: 本发明提供了一种电子元器件S参数通用测试方法，包括仪器连接、网络分析仪设置、网络分析仪校准、测试夹具校准(去嵌入)、待测件(DUT)测试等，本发明的方法可以克服S参数测试过程中的各类影响，包括网络分析仪系统误差的影响、夹具影响等，以便精准测量电子元器件的S参数。

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